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價格:電議
所在地:陜西 西安市
型號:長禾
更新時間:2024-05-08
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公司地址:西安市高新區(qū)錦業(yè)路69號創(chuàng)新商務(wù)公寓1號樓10310室
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蒲經(jīng)理(先生) 經(jīng)理
長禾實驗室專注于功率半導(dǎo)體器件的動、靜態(tài)參數(shù)檢測、可靠性檢測、失效分析、溫循試驗、熱阻測試等領(lǐng)域的技術(shù)服務(wù)。業(yè)務(wù)范圍主要涉及國內(nèi)軌道交通、風(fēng)力發(fā)電、科研單位、軍工院所、工業(yè)控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽車等行業(yè)。也是第三代半導(dǎo)體(寬禁帶半導(dǎo)體)應(yīng)用解決方案服務(wù)商。
長禾實驗室秉承創(chuàng)新務(wù)實的經(jīng)營理念,為客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)、完善的解決方案及全方位的技術(shù)支持;同時注重與行業(yè)企業(yè)、高校和科研院所的合作與交流,測試技術(shù)與服務(wù)水平不斷提升。
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長禾相關(guān)檢測標準 GJB360B 電子及電氣元件試驗方法 溫度沖擊試驗 GB/T 2423.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨機振動--一般要求 GJB 360A 電子及電氣元件試驗方法 GJB 1420A 半導(dǎo)體集成電路外殼總規(guī)范 GJB 128A 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 3157 半導(dǎo)體分立器件失效分析方法和程序 GJB 3233 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 548A 微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B 微電子器件試驗方法和程序 GJB 5914 各種質(zhì)量等級軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法 GJB128A 半導(dǎo)體分立器件試驗方發(fā)方法1071密封 GB/T17574半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GJB597A 半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范 GB/T6798半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T4587半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 GB/T4586半導(dǎo)體器件分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管 GB/T 4023 半導(dǎo)體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T2693 電子設(shè)備用固定電容器 第一部分:總規(guī)范 GB/T5729 電子設(shè)備用固定電阻器 第一部分:總規(guī)范 GJB1217A 電連接器試驗方法等。 |
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