探針臺(tái)probe電性測(cè)試失效分析

儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司

會(huì)員指數(shù)：

企業(yè)認(rèn)證：

價(jià)格：電議

所在地：北京

型號(hào)：

更新時(shí)間：2023-11-10

瀏覽次數(shù)：2246

公司地址：北京市中關(guān)村軟件園

13488683602 sunny(先生)

點(diǎn)擊查看聯(lián)系電話在線詢價(jià)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

探針臺(tái)probe電性測(cè)試失效分析芯片測(cè)試晶圓測(cè)試通過微探針連接到芯片并引出所需信號(hào)，用于電學(xué)特性測(cè)試。微小連接點(diǎn)信號(hào)引出，用于失效分析失效確認(rèn)，F(xiàn)IB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)等

公司簡(jiǎn)介

IC失效分析 Decap，X-RAY，IV，EMMI，F(xiàn)IB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE

專業(yè)從事電子產(chǎn)品分析測(cè)試設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售，以及國(guó)外**設(shè)備代理,探針臺(tái)probe 開封機(jī)decap 微光顯微鏡emmi 紅外顯微鏡 iv自動(dòng)曲線量測(cè)儀失效分析可靠性測(cè)試FIB,切割研磨機(jī)rie，電子顯微鏡sem等

展開

產(chǎn)品說明

探針臺(tái)probe電性測(cè)試失效分析芯片測(cè)試晶圓測(cè)試

主要用途

通過微探針連接到芯片并引出所需信號(hào)，用于電學(xué)特性測(cè)試

性能參數(shù)

放大倍數(shù)50X，100X，200X，500X

8個(gè)探針座

帶屏蔽箱

應(yīng)用范圍

微小連接點(diǎn)信號(hào)引出，用于失效分析失效確認(rèn)，F(xiàn)IB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)等。

本頁產(chǎn)品地址：http://m.521uz.com/sell/show-7904080.html

免責(zé)聲明：以上所展示的[ 探針臺(tái)probe電性測(cè)試失效分析]信息由會(huì)員[儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司]自行提供，內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)。
[給覽網(wǎng)]對(duì)此不承擔(dān)任何責(zé)任。
友情提醒：為規(guī)避購買風(fēng)險(xiǎn)，建議您在購買相關(guān)產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量！