SurfaceSeer S 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀

那諾中國(guó)有限公司

會(huì)員指數(shù)：

企業(yè)認(rèn)證：

價(jià)格：電議

所在地：上海

型號(hào)：SurfaceSeer S

更新時(shí)間：2024-09-23

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公司地址：上海市閔行區(qū)老滬閔路1388弄舒也時(shí)代廣場(chǎng)C棟320

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

KoreSurfaceSeerS在TOF-SIMS（飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀）系列中，是一款高性?xún)r(jià)比且經(jīng)久耐用的產(chǎn)品。它是研究樣品表面化學(xué)成分的理想選擇，適用于研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用。

公司簡(jiǎn)介

那諾中國(guó)有限公司是一家高科技技術(shù)服務(wù)公司，專(zhuān)注于為大中華區(qū)域（包括中國(guó)大陸、香港、澳門(mén)和臺(tái)灣）的高校、科研院所、企業(yè)研發(fā)與生產(chǎn)提供基于飛行時(shí)間質(zhì)譜儀的高性能科學(xué)儀器。我們可以提供高性?xún)r(jià)比的定制化儀器，因?yàn)槲覀兡軌蛑貜?fù)使用現(xiàn)有的設(shè)計(jì)模塊，這些來(lái)源于我們龐大的、有據(jù)可查的后臺(tái)目錄中。這些預(yù)先存在的機(jī)械信息，結(jié)合所需要的任何一次性工程，使我們能夠根據(jù)客戶(hù)的具體要求生產(chǎn)出價(jià)格合理的儀器。我們的飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS），不僅適用于實(shí)驗(yàn)室實(shí)驗(yàn)，也適用于現(xiàn)場(chǎng)實(shí)時(shí)分析。我們的儀器在環(huán)境科學(xué)、工業(yè)和生產(chǎn)、生物科學(xué)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體、電子等行業(yè)都有廣泛的應(yīng)用。

展開(kāi)

產(chǎn)品說(shuō)明

Kore SurfaceSeer S在TOF-SIMS （飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀）系列中，是一款高性?xún)r(jià)比且經(jīng)久耐用的產(chǎn)品。它是研究樣品表面化學(xué)成分的理想選擇，適用于研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用。

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，簡(jiǎn)稱(chēng)TOF-SIMS），也叫靜態(tài)二次離子質(zhì)譜，是飛行時(shí)間和二次離子質(zhì)譜結(jié)合的一種新的表面分析技術(shù)。TOF-SIMS具有高分辨、高靈敏度、精確質(zhì)量測(cè)定等性能，是目前高技術(shù)領(lǐng)域廣泛使用的分析技術(shù)。

Kore SurfaceSeer S 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀使用的是5keV Cs+離子束（可選惰性氣體Ar+），該離子束是脈沖式的，以限度地減少連續(xù)離子束可能造成的表面損傷。在每100μs TOF 循環(huán)中，該離子槍的脈沖時(shí)間僅為60ns，因此，主光束提供的電流比連續(xù)打開(kāi)時(shí)少1000倍以上。典型的10s實(shí)驗(yàn)時(shí)間所產(chǎn)生的電流僅相當(dāng)于幾毫秒的連續(xù)光束電流。要達(dá)到所謂的“靜態(tài)SIMS”極限，需要在一個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行幾分鐘的分析，在這個(gè)點(diǎn)上，表面損傷在數(shù)據(jù)中變得清晰可見(jiàn)(取決于焦點(diǎn)和光束電流)。盡管離子劑量較低，這款TOF分析儀還是非常高效的，這就說(shuō)明了它具有較高的二次離子數(shù)據(jù)速率（即使在離子產(chǎn)率相對(duì)較低的聚合物上，也通常為5000 c/s）。

SurfaceSeer S 儀器特點(diǎn)：

配備5keV Ar+/Cs+脈沖式離子束，以限度地減少連續(xù)離子束可能造成的表面損傷，實(shí)現(xiàn)樣品“無(wú)損”分析；
針對(duì)工業(yè)領(lǐng)域的低成本TOF-SIMS儀器；
均適用于導(dǎo)電物體表面和絕緣物體表面的分析；
可在1~2min內(nèi)實(shí)現(xiàn)高速率的正負(fù)質(zhì)譜分析；
質(zhì)量分辨率可達(dá) >2,500 m/δm (FWHM)；
適用于導(dǎo)電物體表面和絕緣物體表面的分析。

SurfaceSeer S 應(yīng)用領(lǐng)域:

表面化學(xué)
黏附力
分層
印刷適性
表面改性
等離子體處理
痕量分析（表面ppm）
催化劑
同位素分析
表面污染

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