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Microderm CMS 手提式β射線涂鍍層測厚儀

上海益朗儀器有限公司
會員指數(shù): 企業(yè)認證:

價格:電議

所在地:上海

型號:Microderm CMS

更新時間:2024-03-19

瀏覽次數(shù):2441

公司地址:臨夏路256號上海電子商城5號樓904室

丁成峰(先生) 經理 

產品簡介

美國UPA品牌Microderm CMS手提式射線涂鍍層測厚儀 上一款手持式射線測量儀器 測量涂鍍層厚度 在生產線上可作為手持式

公司簡介


我司是精密測試儀器代理商,為在中國獨家代理美國Thermo-Electron X-射線測厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量,而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。以下我們公司其他主要產品:   新加坡QTEST CIMS 特性阻抗測試儀   韓國Micro Pioneer XRF-2000系列測厚儀   美國Solar Metrology 太陽能薄膜電池厚度測量儀   日本KYORITSU WAK-水質離子測試包   美國WALCHEM(禾威)電鍍藥液自動添加系統(tǒng)   美國OMEGA 600SMD離子污染測試儀   美國UPA / VEECO非破壞性厚度測試儀   美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品   英國JENWAY分光光度計   美國Kocour庫侖測厚儀、侯氏槽、陰/陽極片、離心機等   德國SCAN-DIA研磨 / 拋光器材及消耗品   美國INNOV-X伊諾斯RoHS分析儀(手提式:XRF 6500,臺式:Ray-tek1800)   美國ECI電鍍藥液分析系統(tǒng)   美國DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA溫濕度記錄儀   日本SHIMADZU(島津)分光光度計、X射線熒光分析儀   日本IWAKI工業(yè)用泵   韓國K-Mac ST4080-OSP 光學測厚儀   美國SPELLMA******??電源供應器   日本KETT磁感/渦流涂層測試儀   俄羅斯INTRON PTH-1/ITM-52手提式線路板孔銅測厚儀   美國RPS可焊性測試儀   美國UNITRON工業(yè)用顯微鏡系統(tǒng)及表面光滑度測試儀   美國EXTECH多用途萬用表   美國CECO板材厚度測試儀、銅箔剝離強度儀   一直致力于為PCB廠商,電鍍行業(yè),科研機構,半導體生產等電子行業(yè)提供高性能的儀器和優(yōu)質的售后服務?!緎hanghai yilang yiqi youxiangongsi】
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產品說明


美國UPA品牌Microderm CMS手提式β射線涂鍍層測厚儀

上一款手持式β射線測量儀器
測量涂鍍層厚度
在生產線上可作為手持式儀器,在質量控制實驗室可作為臺式儀器使用
● 多樣化的探針和探針臺設備可測量大多數(shù)不同尺寸和形狀的樣品
● 菜單控制、友好操作界面的***和易于讀數(shù)的背景光讀數(shù)顯示
● 可通過USB端口將樣品數(shù)據(jù)傳輸至電腦
● 人體力學設計,使用舒適、方便、效率高
● 充電式鎳電池,可連續(xù)測量使用20小時
● 充電底座可充當測量工作臺

典型應用:
粘合劑/鋼,鋁,玻璃;鋁/鐵鎳鈷合金,鋼,玻璃,硅;
氧化鋁/鎳合金;巴式合金/青銅,黃銅,銅,鐵;
銅/鋁,鈹,碳,陶瓷,塑膠;鉻/銅,鋁;
鎘/鋼,黃銅,不銹鋼;化學鎳/鋁,塑膠;
金/鎳,銅,硅,陶瓷;氧化鐵/聚酯薄膜;
鉛/黃銅,青銅;滑潤劑/鋼,鋁,黃銅,銅;
聚酯薄膜厚度;
鎳/鋁,鈹;鈀/鎳;
光阻材料/銅;鉑/鎳;底漆/玻璃;
銠/鎳,銅,金;銀/銅,鎳,陶瓷;
硅/塑膠;焊錫/銅,黃銅;
鉭/玻璃;錫/銅,黃銅,鋼;
錫鎳合金/鎳;氮化鈦/鋼,不銹鋼;

MicroDermCMS規(guī)格參數(shù):
尺寸:9.5″×5.0″×2.5″(250mm×125mm×62.5mm)
重量:1.5lbs. (0.65kg)
顯示:2″×2.4″(50mm×60mm)背景光顯示區(qū)域320×240像素;?VGA
存儲:100 應用;20 校準;350,000 測量結果存儲
統(tǒng)計:平均值,標準偏差,
zui大/小值,范圍
輸出:9針串口至USB
電池:可充電式4AA 2500mAh NiMH電池

HH-3型和HH-2型探針是通用的β射線探針,這些類型探針可以測量大多數(shù)不同尺寸和形狀的微小樣品,如圓柱體、薄片、擋風玻璃、電子元器件和微小面積樣品。

SPG-1 Probe Guide
SPG-1用來定位HH-3探針在微小表面積上的測量,如電子元器件。


WF Probe Guide
WF是一款理想的工具應用于航空、汽車或其它需要測量大面積表面的工業(yè)(擋風玻璃、金屬板、薄板等)


UMS Probe Stand
UMS探測臺用于HH-3探針可控制測量位置,底臺上附有固定設備。

BTF Probe
BTF β射線薄膜厚度測量探針可以測量其稀薄的濕或干的涂層,如沖壓滑潤劑、底漆、扁平零件上的粘合劑等。


HH-4 Probe
HH-4探針主要用來測量樣品內部便面的涂/鍍層,如管形材料、軸承、環(huán)形物、圓柱形物體等。


PS 10-A Probe Table
PS-10A工作臺用來進行、即時測量非常小的零部件和電子元器件。如連接器、接觸頭、插腳、接線端等。
 

本頁產品地址:http://m.521uz.com/sell/show-939662.html
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