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涂鍍層測厚儀測量過程中須特別留意的一些細節
發布時間：2018-11-02瀏覽次數：2182返回列表
在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。測厚儀中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。南京山特儀器有限公司的涂鍍層測厚儀，采用高度定位激光，可自動定位測試高度；定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點；高分辨率探頭使分析結果更加；良好的射線屏蔽作用；測試口高度敏感性傳感器保護；可滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求；移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm。
涂鍍層測厚儀測量過程中須特別留意的一些細節：
1、邊緣效應：鍍層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
2、曲率：試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
3、試件的變形：測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。
4、基體金屬磁性質：磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
5、測頭壓力：測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
6、測頭的取向：測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。
7、基體金屬厚度：每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
8、表面粗糙度：基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。
9、磁場：周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
10、基體金屬電性質：基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。
11、附著物質：鍍層測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
