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價格：電議
所在地：陜西 西安市
型號：美國FEI
更新時間：2019-10-11
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公司地址：陜西省西安市高新區高新路88號尚品國際C北座28層2808號
方紅星(先生)
技術說明
1.小化樣品制備的數量，低真空和 ESEM 功能可實現緣及/或含水樣品的無荷電成像和分析
2.通過 Quanta 的“經由透鏡”壓差真空技術，可在高真空和低真空條件下對導電和緣樣品進行 EDS 和 EBSD 分析，提高分析能力。 穩定的高射束電流（高達 2 μA）可實現快速準確的分析
3.使用原位樣品臺在 - 165 °C - 1500 °C 環境溫度條件下執行各種自然狀態樣品的動態原位分析
4.使用可選的射束減速模式完成表面成像，以獲取導電樣品的表面和成分信息
5.易用和直觀性令初學者也能進行操作。
應用說明
NanoCharacterization（納米級表征）金屬及合金、氧化/腐蝕、斷口、焊接點、拋光片、磁性和超導材料、陶瓷、復合材料、塑料薄膜/涂層地質斷面、礦物軟材料：聚合物、藥品、過濾器、凝膠體、薄紗織品、種植材料微粒、多孔材料、纖維。
免責聲明：以上所展示的[美國FEI 電子顯微鏡]信息由會員[陜西唯穩科技發展有限公司]自行提供，內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。
