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| 是否提供加工定制 | 否 | 類型 | 電參數測量儀 |
| 品牌 | 羲和 | 型號 | 橢偏儀 |
光譜橢偏儀
產品型號：SE400adv
簡要描述：高性能橢偏儀，針對粗糙表面硅太陽能電池的測量裝置，擁有業內zui高測量度。
技術參數
■ 膜厚范圍：0-30000nm
■ 折射指數：± 0.0001
■ 厚度準確度：± 0.01nm
■ 入射角度：20 - 90°
■ 波長范圍：250-1100nm（深紫外、近紅外、紅外可選）
■ Psi=±0.01°，Delta=±0.02°
特點
■ 光譜范圍：UV/VIS range 250 - 1100 nm，可選擴展光譜范圍NIR (700 - 1700 nm) or (700 - 2100 nm)、UV-VIS 范圍(190 - 1100 nm) ；
■ 自動旋轉起偏器可測量任意偏振狀態；
■ 步進掃描分析儀可高速采集低噪音信號；
■ 可變角度范圍：from 10-90°，可升級為自動變角度10-90°控制 ；
■ 單層薄膜/多層薄膜快速薄膜厚度、折射率測量；
■ 專業測試軟件可大范圍Psi和Delta數據自動測量，并對測試數據進行采集和分析，內置幾百種材料數據庫；
■ 可擴展二維自動掃描平臺，實現(50X50mm, 100X100mm, 150X150mm or 200X200mm)Mapping測量功能以及3D分析；
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