高性能全自動壓汞儀（MIP）

合肥佰艾巨測科學技術有限責任公司

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價格：電議

所在地：安徽合肥市

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更新時間：2023-08-02

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公司地址：安徽省合肥市包河區繁華大道與河北路交口明悅中心2306

17364312735 李博信(先生)

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產品簡介

高性能全自動壓汞儀（MIP）測試壓汞儀使用汞侵入法來測定總孔體積、孔徑分布、孔隙率、密度和傳輸性。內置強大的數據處理和報告程序包，快速升壓、靈活、可控的真空系統，和高性能的低/高壓系統。

公司簡介

本公司可進行以下各類儀器測試：EXAFS、球差電鏡、冷凍電鏡、原位透射、原位XRD、原位拉曼、原位紅外、原位XPS、原位EBSD、穆斯堡爾譜、TOF-SIMS、fS-TAS、球差電鏡、FIB、TEM度(可離子減薄、雙噴、FIB制樣)、磁性HRTEM、SAED、MAPPING、原位TEM、三維重構等。SEM（冷場/熱場超高分辨，10-20萬倍(云直播) ），EBSD 機械拋光/電解拋光原位EBSD測試。AFM 、形貌、楊氏模量等。工業CT 、EPMA 、三維輪廓儀、共聚焦顯微鏡。常規XRD、原位XRD、UPS、單晶、XRF、SAXS。能譜XPS、TOF-SIMS、俄歇電子譜輝光質譜。光譜紅外、拉曼、紫外、熒光、圓二色譜、fs-TAS。物理吸附、化學吸附。核磁液體核磁、固體核磁、ESR/EPR穆斯堡爾譜。熱分析 TG-DSC TG-MS 、TG-IR、熱膨脹TMA、 DMA 、比熱容、導熱系數。錐形量熱儀、極限氧指數、 UL94燃燒。色譜質譜、MS 、 HPLC 。物性測試 VSM、 SQUID 、PPMS 。粒度 ZETA 、固體ZETA 接觸角。粘度、矢量網絡、水分測定、霍爾效應、塞貝克系數、流變儀、電導率、阻抗、肖特基、光電流、 SPV 、電磁屏蔽、介電、透氣性測試。力學性能納米壓痕、微米劃痕、拉伸、疲勞、沖擊、殘余應力、硬度、理化分析實驗室、材料測試實驗室、研發實驗室等，提供化學測試、生物實驗外包、環境檢測、模擬計算、科研繪圖在內的各類科研服務。

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產品說明

高性能全自動壓汞儀（MIP）測試介紹
全自動壓汞儀是通過汞入侵法來測定粉末和固體物理性質的儀器，因氮氣吸附測試只能局限于測中孔、微孔分布，大孔材料一般般利用壓汞測試來測量。
實際上,材料孔隙的研究內容包括孔隙大小形態、結構、類型、孔隙度、孔容、孔比表面積測試等。壓汞法以及氣體(氮氣)吸附法是進行材料孔隙結構研究中常用的方法，可以有效地研究孔隙大小、形態以及結構特征。
壓汞法的特點是測量速度快、對樣品的形狀要求不高。由于受到實驗室儀器限制,低溫氮氣吸附測試的材料最小孔徑為0.6 nm ,最大孔直徑為100~150 nm ,而壓汞法實際能測試的孔徑范圍為幾個納米到幾百個微米。
壓汞法可以測定多孔材料的孔徑大小、孔隙體積,從而計算出孔徑分布。壓汞法首先由H.L.Ritter和L.C.Drake提出。它是基于汞對固體表面具有不可潤濕性,只有在壓力的作用下,汞才能擠入多孔材料的孔隙中,孔徑越小,所需要的壓力就越大。
高性能全自動壓汞儀（MIP）測試應用領域
壓汞儀用來測定粉末和固體重要的物理特性，如孔徑分布、總孔體積、總孔表面積、中值孔徑、樣品的密度(真密度和堆密度)、流體導電性和機械性能。
高性能全自動壓汞儀（MIP）測試注意事項
1、孔徑分布，可分析孔徑范圍：5nm～800 um，可分析粉末（可能誤差比較大）或者塊狀樣品；
2、孔隙率，僅能測樣品要壓壞前正常被測到的孔且是連通孔的孔隙率。
適用于粉末或多孔材料的孔徑分布、孔體積、比表面積、堆積密度、表觀密度、孔隙度、顆粒分布及相關特性的測試。
1. 此測試樣品無法回收；可分析粉末（可能誤差比較大）或者塊狀樣品；壓汞適合剛性材料的檢測，非剛性材料測試在汞入侵后會改變孔結構導致孔徑小于真實值。樣品不能容易含有能和汞發生反應的成分，如含重金屬等無法安排測試。
2.(1). 粉末樣品量：最好2～3克；(2). 塊體樣品尺寸不超過25px*25px*25px；薄膜類樣品需要疊加測試，可以提供尺寸125px×125px一片或25px×25px多片。
3.可分析孔徑范圍：5nm（壓力30000psi）～800μm，其他需要請聯系工作人員
高性能全自動壓汞儀（MIP）測試常見問題
1. 報告中的BET比表面積值是否可用
麥克儀器的壓汞測試與BET物理吸附儀軟件通用，所以壓汞數據中會存在BET比表面這個參數，不是實驗測到的數據，這個數值可以忽略，老版軟件會有這個問題，新版有做調整。如果需要準確的BET比表面積數據可以通過測試BET物理吸附儀得到。但是需注意BET物理吸附儀在處理微孔和介孔樣品時數值會比較準確。
2. 測的的孔徑分布比SEM圖片看到的要小或者大
可能原因：第一，圧汞測的是樣品整體的孔徑分布，而且是樣品被壓力破壞前的孔徑分布，而SEM測的是樣品表面微小區域的孔徑分布，而且倍數太高的話，SEM的標尺是可能有一定誤差的，所以兩者可比性并不太大；第二，可能SEM中看到的目標孔在樣品中含量太低，在圧汞數據顯示的峰太小，需要放大才能看到，這個需要具體樣品，具體分析。
3.壓汞是否可以回收？
不能回收，做完的樣品已經浸潤了汞，有毒，需要集中處理。
4.怎么得到孔隙率？
麥克的儀器可以直接通過儀器分析得到，康塔的需要同測量樣品總體積手動計算。
5.MIP能測的壓力范圍是多少？
康塔最大壓力32915PSI（227MPA）,麥克最大壓力60000psi（413MPA）。
6.都能測孔徑分布，怎么選擇MIP和BET？
BET能測的孔徑是小于20nm以下的孔，20nm以上的孔基本都需要MIP來做，極限是500um的孔。
7. MIP送樣尺寸？
粉末至少5g；固體樣最大尺寸37.5px3，如果塊體樣太小，需要更多的量；薄膜樣用量實際厚度為準，薄的樣至少需要5-6片。
8.關于中間孔徑（V）和中間孔徑（A）數值差異較大的原因？
中間孔徑（V）的概念：不同孔徑的孔以孔體積的大小進行排布，取中值孔體積對應的孔徑的大小；中間孔徑（A）的概念：不同孔徑的孔以孔表面大小進行排布，取中值表面積對應的孔徑大小。相同體積不同孔直徑的孔，孔直徑較小的孔的孔表面積較大。所以一般情況下，中間孔徑（V）較中間孔徑（A）更大。
9.文件中每個樣品的具體數據，除了堆積密度與PDF格式文件（或Excel文件）中的數據一致意外，其它重要的參數如表觀密度、孔隙率、平均孔徑、中間孔徑等均不一致，是什么原因？
因為軟件都是默認用戶的這些參數是在設置的最后一個壓力情況下得到的，所以軟件都是取最后一個點來計算這些參數值。表觀密度我是取第一個加載點計算的，孔隙率我是取壓汞過程最大值來計算的，平均孔徑也是以最大值來計算的。
10.分析測試樣品的孔大小在樣品中的分布情況，也可以說是每種孔徑（孔體積）的孔在樣品中的占比如何？最好是得到孔徑（或體積）vs.占比的曲線圖。不知道怎樣可以得到這個曲線？
可以計算占比情況，因為數據中有孔徑和各級孔徑對應的孔容值及總孔容值。那么橫坐標是孔徑（或體積），縱坐標是孔容的百分率是可以的。
11.壓汞測試適用于什么類型的材料？
壓汞測試所需的壓力很高，軟性材料在高壓之下容易擠壓變形，所以測試的結果會失真。如果多孔材料是膜材料那么建議用氣體泡壓法或者液液置換法來測，如果不是貫通孔的話也只有用壓汞法做了。
壓汞法更適合于測試顆粒物或者塊狀樣品（像陶瓷、多孔金屬等有高強度的），如果是膜材料那么久需要滿足兩個條件才能測：1、樣品具有高強度，不易擠壓形變；2、樣品是對稱結構而不是非對稱膜。
12.壓汞分析文件中，有兩個中間孔徑V和A，有什么區別？
中間孔徑V和A分別是指V和A從第一個點對應值到第一次最大值這些數據中，V和A中間值對應的孔徑，如最大值是1.000，那么0.500對應的孔徑就是中間孔徑，因為我們加載的壓力是一個一個點組成的，所以有時候這個0.500不一定正好存在，則所得的中間孔徑也就是估算大概的數據。
13.都能測孔徑分布，怎么選擇MIP和BET?
BET能測的孔徑是小于20nm以下的孔，20nm以上的孔基本都需要MIP來做，極限是500um的孔