BERTWave MP2110A 是一款內(nèi)置誤碼率測(cè)試儀 (BERT) 和采樣示波器的一體化測(cè)量?jī)x器，支持光學(xué)模塊的誤碼率 (BER) 測(cè)量、眼圖分析等評(píng)估操作。

瑞普高電子是一家專(zhuān)業(yè)從事光通訊，微波射頻和電子測(cè)試儀器銷(xiāo)售，維修，租賃，校準(zhǔn)，回購(gòu)及測(cè)試方案提供的“一站式”測(cè)試儀器技術(shù)服務(wù)公司。我們主要經(jīng)營(yíng)是德科技（Keysight），泰克(Tektronix)，福祿克(Fluke)，安立(Anritsu)，美國(guó)國(guó)家儀器（National?Instruments）等品牌的頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、綜合測(cè)試儀等電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器以及含光眼圖儀，誤碼儀，光譜分析儀，可調(diào)光源，波長(zhǎng)計(jì)等在內(nèi)的光纖通信測(cè)試儀器設(shè)備。 根據(jù)我國(guó)儀器儀表市場(chǎng)的具體需求狀況和國(guó)際國(guó)內(nèi)儀器行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)，瑞普高精選出一些技術(shù)先進(jìn)、質(zhì)量可靠的新舊測(cè)試測(cè)量?jī)x器用于銷(xiāo)售和租賃，已受到多方用戶的認(rèn)可和依賴。 我們以經(jīng)驗(yàn)豐富的技術(shù)服務(wù)隊(duì)伍，全面完善的質(zhì)量體系和工作流程，客戶至上的企業(yè)文化來(lái)服務(wù)中國(guó)和海外的市場(chǎng)。?本公司將不斷地努力創(chuàng)新，致力于客戶的需求，力求在儀器品質(zhì)、品種及后續(xù)維護(hù)維修服務(wù)等方面創(chuàng)立并秉持企業(yè)在行業(yè)中的信譽(yù)和服務(wù)特色。

BERTWave MP2110A 是一款內(nèi)置誤碼率測(cè)試儀 (BERT) 和采樣示波器的一體化測(cè)量?jī)x器，支持光學(xué)模塊的誤碼率 (BER) 測(cè)量、眼圖分析等評(píng)估操作。
為了評(píng)估光學(xué)通訊系統(tǒng)中使用的光學(xué)模塊，需要使用 BERT 和采樣示波器。在此之前，評(píng)估 QSFP28 和 SFP28 等典型的光學(xué)模塊需要使用獨(dú)立的 BERT 和采樣示波器，但有了內(nèi)置 4 通道 BERT 和雙通道采樣示波器的一體化 BERTWave MP2110A，就無(wú)需再使用單獨(dú)的儀器，從而降低了儀器投入資本和生產(chǎn)成本。
而且，BERTWave MP2110A 不僅可在光學(xué)模塊的 RX 側(cè)同時(shí)測(cè)量多達(dá) 4 個(gè)通道的誤碼率 (BER)，還能同時(shí)在 Tx 側(cè)執(zhí)行最多 4 個(gè)通道的眼圖模板測(cè)試和眼圖分析。此外，MP2110A 采樣示波器的采樣速率高達(dá) 250,000 樣本/秒（比上一代儀器快六倍），可更快地執(zhí)行眼圖模板測(cè)試和眼圖分析。支持NRZ信號(hào)掩模邊緣測(cè)量和抖動(dòng)分析。還可以分析PAM4信號(hào)，并支持高達(dá)53 Gbaud的TDECQ測(cè)量。采用 BERTWave MP2110A 可同時(shí)執(zhí)行 BER 測(cè)量和眼圖分析，使測(cè)量時(shí)間縮短 65％。

MP2110A BERT 在標(biāo)準(zhǔn)配置下可測(cè)量 24.3Gb/s 至 28.2 Gb/s 的比特率，安裝 Opt-093 后則可測(cè)量 9.5Gb/s 至 14.2 Gb/s 的比特率。內(nèi)置采樣示波器支持的帶寬為 40 GHz（電學(xué) I/F）、35 GHz（SMF，光學(xué) I/F）和 25 GHz（MMF，光學(xué) I/F）。此外，該采樣示波器還標(biāo)配內(nèi)置 100 Gb/s 頻段的貝塞爾濾波器，用于測(cè)量光學(xué)信號(hào)。卓越的性能有助于確保提高光學(xué)模塊的產(chǎn)量。
而且，簡(jiǎn)化的設(shè)置和易用的用戶界面讓 MP2110A 方便操作；向后兼容 MP2100B 的遠(yuǎn)程命令，確保儀器升級(jí)毫無(wú)煩憂。
另外，內(nèi)置 PC 帶來(lái)的穩(wěn)定運(yùn)行確保在任何操作環(huán)境下都能獲得出色的性能。 BERTWave MP2110A 配備多通道 BERT、采樣示波器、高速眼圖分析和波罩余量測(cè)量功能，因此 可提高光學(xué)模塊的生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。

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