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泰規(guī)儀器TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱

上海泰規(guī)檢測設(shè)備有限公司

會員指數(shù)：

企業(yè)認(rèn)證：

價格：電議

所在地：上海

型號：

更新時間：2023-02-03

瀏覽次數(shù)：960

公司地址：上海市奉賢區(qū)莊行鎮(zhèn)牛溇村602號

15000170755 于(女士)

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產(chǎn)品簡介

泰規(guī)儀器TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱主要用于太陽能光伏行業(yè)，針對晶體硅組件、薄膜光伏組件、聚光太陽能等一系列的光伏產(chǎn)品以及原材料進(jìn)行溫度、濕度、循環(huán)試驗(yàn)，等一系列的光伏組件進(jìn)行試驗(yàn)可以再現(xiàn)環(huán)境所產(chǎn)生的破壞,以評價其在一定的溫濕度條件下貯存和使用的適應(yīng)性。

公司簡介

上海泰規(guī)檢測設(shè)備有限公司簡稱泰規(guī)儀器，是一家專業(yè)生產(chǎn)科研試驗(yàn)儀器的生產(chǎn)型企業(yè),工廠現(xiàn)位于上海市奉賢區(qū)四團(tuán)工業(yè)園區(qū)，擁有經(jīng)驗(yàn)豐富的專業(yè)技術(shù)隊(duì)伍，通過與上海、北京、天津深圳等多所科研單位和高等院校合作，發(fā)展成為以燃燒阻燃類、環(huán)境試驗(yàn)類、以及力學(xué)試驗(yàn)類型儀器為主要生產(chǎn)，產(chǎn)品的復(fù)合型公司。泰規(guī)儀器致力于為各大高校、企業(yè)、單位提供專業(yè)、儀器產(chǎn)品，并提供儀器設(shè)備的安裝調(diào)試、功能升級、維護(hù)修理的一站式服務(wù),客戶群體涵蓋制造、科研、教育、建材、能源、通信等眾多領(lǐng)域。

展開

產(chǎn)品說明

泰規(guī)儀器TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱設(shè)備介紹：

光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱主要用于太陽能光伏行業(yè)，針對晶體硅組件、薄膜光伏組件、聚光太陽能等一系列的光伏產(chǎn)品以及原材料進(jìn)行溫度、濕度、循環(huán)試驗(yàn)，等一系列的光伏組件進(jìn)行試驗(yàn)可以再現(xiàn)環(huán)境所產(chǎn)生的破壞,以評價其在一定的溫濕度條件下貯存和使用的適應(yīng)性。

泰規(guī)儀器TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱適用標(biāo)準(zhǔn)：

光伏組件濕熱循環(huán)試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)有：IEC 61646:2008、IEC 61215:2016、IEC 61730:2016、UL1703:2015、GB/T 9535:2006、GB/T18911:2002、IEEE1513、GB9535-2005等標(biāo)準(zhǔn)。

泰規(guī)儀器TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱參數(shù)介紹：

泰規(guī)儀器TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱相關(guān)規(guī)范資料介紹：

1：溫度循環(huán)測試

試驗(yàn)?zāi)康模捍_定組件于溫度重復(fù)變化時,引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。

測試要求：

1、整個測試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2、整個測試過程中，監(jiān)測每一個模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3、監(jiān)測每一個模塊之一個隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4、監(jiān)測可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測試過程中無間歇開路或接地失效)

溫度循環(huán)比較	低溫	高溫	溫變率	駐留時間	循環(huán)數(shù)
IEC61215	-40±2℃	85±2℃	zui大100℃/h	zui少10min	50、200
GB9535	-40±2℃	85±2℃	zui大100℃/h	zui少10min	50、200
IEC61646	-40±2℃	85±2℃	zui大100℃/h	zui少10min	50、200
GB18911	-40±2℃	85±2℃	zui大100℃/h	zui少10min	50、200
UL1703	-40±2℃	90±2℃	zui大120℃/h	30～105min	200
IEC62108	-40±2℃	65℃、85℃、110℃	10cycle/day	10min	500、1000、2000
IEC62108	-40℃	65℃、85℃、110℃	18cycle/day	10min	500、1000、2000
IEEE1513	-40℃	90℃、110℃	0.9～7.5℃/min	zui少10min	250、500
IEEE1513	-40℃	90℃、110℃	zui大100℃/h	zui少10min	100、200
IEEE1513	-40℃	60℃、90℃	zui大100℃/h	zui少10min	50、200

2：濕冷凍測試

目的：確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。

測試要求：

1、整個測試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2、整個測試過程中，監(jiān)測每一個模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3、監(jiān)測每一個模塊之一個隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4、監(jiān)測可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測試過程中無間歇開路或接地失效)

溫度循環(huán)比較	高溫高濕	低溫	溫變率	循環(huán)數(shù)
IEC61215	85℃/85±5%(20h)	-40℃(0.5～4h)	高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h)	10
GB9535	85℃/85±5%(20h)	-40℃(0.5～4h)	高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h)	10
IEC61646	85℃/85±5%(20h)	-40℃(0.5～4h)	高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h)	10
GB18911	85℃/85±5%(20h)	-40℃(0.5～4h)	高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h)	10
UL1703	85℃/85±2.5%(20h)	-40℃(0.5～4h)	高溫升降溫(120℃/h) 低溫升降溫(200℃/h)	10
IEEE1513	85℃/85±2.5%(20h)	-40℃(0.5～4h)	高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h)	20
IEC62108	85℃/85±2.5%(20h)	-40℃(0.5～4h)	高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h)	20、40

3：濕熱測試

目的：確定模塊抵抗?jié)駳忾L期滲透之能力。

試驗(yàn)條件：85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)

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