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價格：電議
所在地：上海
型號：
更新時間：2023-02-03
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公司地址：上海市奉賢區(qū)莊行鎮(zhèn)牛溇村602號
于(女士)
泰規(guī)儀器TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱設(shè)備介紹：
光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱主要用于太陽能光伏行業(yè)，針對晶體硅組件、薄膜光伏組件、聚光太陽能等一系列的光伏產(chǎn)品以及原材料進(jìn)行溫度、濕度、循環(huán)試驗(yàn)，等一系列的光伏組件進(jìn)行試驗(yàn)可以再現(xiàn)環(huán)境所產(chǎn)生的破壞,以評價其在一定的溫濕度條件下貯存和使用的適應(yīng)性。
泰規(guī)儀器TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱適用標(biāo)準(zhǔn)：
光伏組件濕熱循環(huán)試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)有：IEC 61646:2008、IEC 61215:2016、IEC 61730:2016、UL1703:2015、GB/T 9535:2006、GB/T18911:2002、IEEE1513、GB9535-2005等標(biāo)準(zhǔn)。
泰規(guī)儀器TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱參數(shù)介紹：
泰規(guī)儀器TG-1028光伏組件濕凍循環(huán)試驗(yàn)箱相關(guān)規(guī)范資料介紹：
1：溫度循環(huán)測試
試驗(yàn)?zāi)康模捍_定組件于溫度重復(fù)變化時,引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。
測試要求：
1、整個測試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃
2、整個測試過程中，監(jiān)測每一個模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器
3、監(jiān)測每一個模塊之一個隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器
4、監(jiān)測可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測試過程中無間歇開路或接地失效)
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溫度循環(huán)比較 |
低溫 |
高溫 |
溫變率 |
駐留時間 |
循環(huán)數(shù) |
|
IEC61215 |
-40±2℃ |
85±2℃ |
zui大100℃/h |
zui少10min |
50、200 |
|
GB9535 |
-40±2℃ |
85±2℃ |
zui大100℃/h |
zui少10min |
50、200 |
|
IEC61646 |
-40±2℃ |
85±2℃ |
zui大100℃/h |
zui少10min |
50、200 |
|
GB18911 |
-40±2℃ |
85±2℃ |
zui大100℃/h |
zui少10min |
50、200 |
|
UL1703 |
-40±2℃ |
90±2℃ |
zui大120℃/h |
30～105min |
200 |
|
IEC62108 |
-40±2℃ |
65℃、85℃、110℃ |
10cycle/day |
10min |
500、1000、2000 |
|
IEC62108 |
-40℃ |
65℃、85℃、110℃ |
18cycle/day |
10min |
500、1000、2000 |
|
IEEE1513 |
-40℃ |
90℃、110℃ |
0.9～7.5℃/min |
zui少10min |
250、500 |
|
IEEE1513 |
-40℃ |
90℃、110℃ |
zui大100℃/h |
zui少10min |
100、200 |
|
IEEE1513 |
-40℃ |
60℃、90℃ |
zui大100℃/h |
zui少10min |
50、200 |
2：濕冷凍測試
目的：確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。
測試要求：
1、整個測試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃
2、整個測試過程中，監(jiān)測每一個模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器
3、監(jiān)測每一個模塊之一個隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器
4、 監(jiān)測可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測試過程中無間歇開路或接地失效)
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溫度循環(huán)比較 |
高溫高濕 |
低溫 |
溫變率 |
循環(huán)數(shù) |
|
IEC61215 |
85℃/85±5%(20h) |
-40℃(0.5～4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
10 |
|
GB9535 |
85℃/85±5%(20h) |
-40℃(0.5～4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
10 |
|
IEC61646 |
85℃/85±5%(20h) |
-40℃(0.5～4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
10 |
|
GB18911 |
85℃/85±5%(20h) |
-40℃(0.5～4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
10 |
|
UL1703 |
85℃/85±2.5%(20h) |
-40℃(0.5～4h) |
高溫升降溫(120℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
10 |
|
IEEE1513 |
85℃/85±2.5%(20h) |
-40℃(0.5～4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
20 |
|
IEC62108 |
85℃/85±2.5%(20h) |
-40℃(0.5～4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
20、40 |
3：濕熱測試
目的：確定模塊抵抗?jié)駳忾L期滲透之能力。
試驗(yàn)條件：85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)
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