SU9000 供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡

蘇州科蒂斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司

會員指數(shù)：

企業(yè)認證：

價格：電議

所在地：江蘇蘇州市

型號：SU9000

更新時間：2024-09-06

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公司地址：蘇州工業(yè)園區(qū)唯亭鎮(zhèn)金陵西路288號3幢205室

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產(chǎn)品簡介

品牌：日立電子型號： SU9000立2011年新推出了SU9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的Flashing操作，可以高效率的快速獲取樣

公司簡介

蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司是一家專業(yè)為實驗室提供整體解決方案的銷售與服務(wù)公司，主要致力于為客戶提供實驗室各種基礎(chǔ)設(shè)備以及大型色譜、質(zhì)譜分析儀器，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于生物技術(shù)、化工、電子、食品、環(huán)境、以及*單位和高?？蒲性核阮I(lǐng)域。公司目前代理產(chǎn)品有：日本希森美康、日本日立、德國耐馳、德國IKA、美國TA、美國賽默飛、美國哈希、瑞士梅特勒、英國馬爾文等。公司具有一批受過專業(yè)培訓(xùn)、富有經(jīng)驗的工程技術(shù)人員，承擔項目的咨詢、設(shè)計，有關(guān)儀器設(shè)備安裝、調(diào)試以及工程集成工作。公司本著服務(wù)于客戶的理念，為客戶提供：維修、培訓(xùn)、安裝、3Q認證等一站式服務(wù)。隨著用戶群的不斷壯大，我們將通過定期回訪客戶，發(fā)放新儀器使用資料及說明等方式提供加完善的售后服務(wù)。我們時刻與廠家保持著密切的聯(lián)系，不僅擁有產(chǎn)品在商務(wù)和技術(shù)方面的強有力的支持，可保證銷售與技術(shù)服務(wù)人員定期的全面產(chǎn)品和技術(shù)培訓(xùn)。同時，為了保證這種專業(yè)服務(wù)的整體質(zhì)量與效率，我們努力建立多層次的客戶意見與售后服務(wù)情況反饋渠道，并定期召開會議檢討工作。公司建立及健全了一支來自不同領(lǐng)域、對實驗室擁有良好經(jīng)驗的銷售隊伍，同時亦具備了足夠的人力從事于外貿(mào)工作——訂貨、物流、客戶服務(wù)等后勤工作。為所有的客戶提供專業(yè)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。公司的宗旨：以我們專業(yè)的服務(wù)，將國內(nèi)外的儀器介紹給你，為你打造輕松、便捷、快速的實驗環(huán)境。我們以科技力量為依托，以市場為導(dǎo)向，不斷的引進新產(chǎn)品，好的為廣大客戶提供滿意的服務(wù)。

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產(chǎn)品說明

產(chǎn)品介紹

日立2011年新推出了SU9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的Flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。

特點：
1. 新型電子光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計達到掃描電鏡世界最高分辨率：二次電子0.4nm（30KV），STEM 0.34nm（30KV）。
2. Hitachi專利設(shè)計的E×B系統(tǒng)，可以自由控制SE和BSE檢測信號。
3. 全新真空技術(shù)設(shè)計使得SU9000冷場發(fā)射電子束具有超穩(wěn)定和高亮度特點。
4. 全新物鏡設(shè)計顯著提高低加速電壓條件下的圖像分辨率。
5. STEM的明場像能夠調(diào)整信號檢測角度，明場像、暗場像和二次電子圖像可以同時顯示并拍攝照片。
6. 與FIB兼容的側(cè)插樣品桿提高更換樣品效率和高倍率圖像觀察效率。

項目			技術(shù)指標
二次電子分辨率			0.4nm （加速電壓30kV，放大倍率80萬倍）
			1.2nm （加速電壓1kV，放大倍率25萬倍）
STEM分辨率			0.34nm（加速電壓30kV，晶格象）
觀測倍率			底片輸出	顯示器輸出
LM模式			80~10,000x	220~25,000x
HM模式			800~3,000,000x	2,200~8,000,000x
樣品臺		側(cè)插式樣品桿
樣品移動行程	X		±4.0mm
	Y		±2.0mm
	Z		±0.3mm
	T		±40度
標準樣品臺			平面樣品臺：5.0mm×9.5mm×3.5mmH
			截面樣品臺：2.0mm×6.0mm×5.0mmH
專用樣品臺			截面樣品臺：2.0mm×12.0mm×6.0mmH
			雙傾截面樣品臺：0.8mm×8.5mm×3.5mmH
信號檢測器			二次電子探測器
			TOP 探測器（選配）
			BF/DF 雙STEM探測器（選配）

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