Apreo 美國賽默飛FEI場發(fā)射掃描電子顯微鏡

藝橋科技(香港)有限公司

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企業(yè)認(rèn)證：

價(jià)格：電議

所在地：廣東深圳市

型號：Apreo

更新時(shí)間：2021-06-24

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公司地址：深圳市寶安區(qū)新安街道82區(qū)新安六路華豐科技園A、B座A座5樓523號

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產(chǎn)品簡介

美國賽默飛FEI場發(fā)射掃描電子顯微鏡Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用功能為豐富的高性能 SEMApreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。

公司簡介

藝橋科技（香港）有限公司(簡稱藝橋科技)，成立于2017年，是一家提供優(yōu)質(zhì)進(jìn)口檢測設(shè)備的供應(yīng)商,擁有專業(yè)、出色的工程師團(tuán)隊(duì)，配備了完善的廠房倉庫。客戶群體集中在LED封裝行業(yè)，業(yè)務(wù)主要包括LED LIGHTING BAR生產(chǎn)線檢測解決方案、半導(dǎo)體行業(yè)DB&WB檢測設(shè)備及解決方案、實(shí)驗(yàn)室相關(guān)檢測設(shè)備、新能源檢測、光學(xué)玻璃檢查解決方案等。

2019年起，與TTVISION合作研發(fā)自動光學(xué)檢測設(shè)備，在研發(fā)項(xiàng)目技術(shù)領(lǐng)域取得豐碩成果。同時(shí)公司戰(zhàn)略性調(diào)整，開發(fā)客戶以鋰電池行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)、高校與研究單位為主，半年間開發(fā)有廣東氣派、華燦光電、利亞德集團(tuán)、德賽電池、藍(lán)微科技等一批高質(zhì)量客戶。

公司擁有一批多年工作經(jīng)驗(yàn)的工作者，富有進(jìn)取心和敬業(yè)精神，不僅能為客戶提供高質(zhì)量的產(chǎn)品，并能為客戶提供優(yōu)質(zhì)、高效的售后解決方案。以專業(yè)的服務(wù)和優(yōu)良的品質(zhì)，深受廣大用戶的好評。

香港藝橋現(xiàn)已經(jīng)成為創(chuàng)維、TCL金能、TCL多媒體、華燦光電、利亞德、氣派科技、瑞豐光電、國星光電、兆馳股份、冠捷科技、木林森股份、木林森電子、木林森光電（吉安、新余）、鴻利智匯、聚飛光電、穗晶光電、晶科電子、虹源光電、帝晶光電等多家企業(yè)的長期穩(wěn)定供應(yīng)商，且大部分為上市公司，業(yè)內(nèi)享有良好的商業(yè)信譽(yù)。

展開

產(chǎn)品說明

美國賽默飛FEI場發(fā)射掃描電子顯微鏡

型號：Apreo

Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用

功能為豐富的高性能 SEM

Apreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。

Apreo 受益于獨(dú)特的透鏡內(nèi)背散射探測，這種探測提供的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時(shí)也不例外。復(fù)合透鏡通過能量過濾進(jìn)一步提高了對比度并增加了用于緣樣品成像的電荷過濾。可選低真空模式現(xiàn)在的大樣品倉壓力為 500 Pa，可以對要求嚴(yán)苛的緣體進(jìn)行成像。

通過這些（包括復(fù)合末級透鏡、探測和靈活樣品處理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應(yīng)對未來的研究難題。

體驗(yàn) Apreo SEM 帶來的

● 獨(dú)有的復(fù)合末級透鏡可在任何樣品（即使在傾斜時(shí)或進(jìn)行地形測量時(shí)）上提供優(yōu)異的分辨率（1 kV 電壓下為 1.0 nm），而無需進(jìn)行電子束減速。

● 作用大的背散射探測 - 始終保證良好的材料對比度，即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進(jìn)行 TV 速率成像時(shí)也不例外。

● 無比靈活的探測器 - 可將各個(gè)探測器部分提供的信息相結(jié)合，獲得至關(guān)重要的對比度或信號強(qiáng)度。

● 各種各樣的電荷緩解策略，包括樣品倉壓力高為 500 Pa 的低真空模式，可實(shí)現(xiàn)任何樣品的成像。

● 的分析平臺提供高電子束電流，而且光斑很小。樣品倉支持三個(gè) EDS 探測器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對分析進(jìn)行了優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。

● 樣品處理和導(dǎo)航其簡單，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。

● 通過用戶指導(dǎo)、預(yù)設(shè)和撤消功能為新用戶提供級結(jié)果。

美國賽默飛FEI場發(fā)射掃描電子顯微鏡
美國賽默飛FEI場發(fā)射掃描電子顯微鏡

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