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價格:電議
所在地:北京
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更新時間:2019-03-27
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人人實(shí)驗(yàn)(女士)

| 設(shè)備簡介 | 掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀人人實(shí)驗(yàn)技術(shù)指標(biāo):二次電子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)背散射電子分辨率:3.0 nm(15 kV)電子槍:冷場發(fā)射電子源加速電壓:0.5~30 kV(0.1 kV/步,可變)放大倍率:×30 ~ ×800,000。掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀人人實(shí)驗(yàn)X射線能譜儀的元素分析范圍為Be4~U92。儀器用途:用于觀察材料表面的微細(xì)形貌、斷口及內(nèi)部組織,并對材料表面微區(qū)成分進(jìn)行定性和定量分析,掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀人人實(shí)驗(yàn)主要用途如下: 金屬、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、礦物、纖維等無機(jī)或有機(jī)固體材料的斷口、表面形貌、變形層等的觀察;?材料的相分布和夾雜物形態(tài)成分的鑒定;?金屬鍍層厚度及各種固體材料膜層厚度的測定;?納米材料及其它無機(jī)或有機(jī)固體材料的粒度觀察和分析 ;?進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析。? |
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