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更新時間：2024-09-18
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18210063398 
謝經理(先生) （來電時請說是從給覽網看到我的)
我們為你提供材料表征測量的一系列產品：
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一表征：壓電材料d33測量儀
1、ZJ-3型壓電測量儀
2、ZJ-4型d33測量儀
3、ZJ-5型積層壓電測試儀
4、ZJ-6型靜壓電d33/d31/d15測量儀
5、ZJ-7型高溫壓電測試儀
★壓電極化裝置
1、PZT-JH10/4壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時極化1-4片）
2、PZT-JH10/8壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片）
3、PZT-JH20/8高壓電極化裝置（20KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片）
4、PZT-FJH20 /3高壓真空，空氣極化裝置（20KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣）
★ 壓電制樣裝置
1、ZJ-D33-YP15壓電陶瓷壓片機（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2
2、ZJ-D33-SYP30電動型壓電陶瓷壓片機（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）
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第二表征 鐵電材料測量系統及電滯回線測量系統
1、ZT-4C型綜合鐵電測量系統
2、JKZT-10A鐵電材料綜合參數測試儀
3、JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統
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第三表征 熱電材料分析測量系統及塞貝克系數測試儀
1、BKTEM-Dx熱電性能分析系統
2、BKTEM-Dx熱電器件性能分析系統
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第四表征 介電材料測試系統
1、 常溫介電測量系統，常溫介電材料測試儀
2、 高溫介電測量系統，高溫介電材料測試裝置
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第四表征磁性材料測試系統
ZEM-5熱電性能分析系統
技術特點：
· 適用于研究開發各種熱電材料和薄膜材料，提高測量精度
· 溫度檢測采用C型熱電偶，適合測量Si系列熱電材料(SiGe, MgSi等) *HT型
· 真正可測基板上的納米級薄膜（TF型）
· zui大可測10MΩ高電阻材料
· 標準搭載歐姆接觸自我診斷程序并輸出V/I圖表
· 基于日本工業標準JIS (熱電能JIS 電阻率JIS R 1650-2)
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ZEM-5HT |
ZEM-5HR |
ZEM-5LT |
ZEM-5TF |
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特 點 |
高溫型 |
高電阻型 zui大電阻：10MΩ |
低中溫型 |
薄膜型 可測在基板上形成的熱電薄膜 |
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溫度范圍 |
RT-1200℃ |
RT-800℃ |
-150℃-200℃ |
RT-500℃ |
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樣品尺寸 |
直徑或正方形：2 to 4 mm2 ； 長度3 ～ 15mm |
成膜基板：寬2-4mm，厚0.4-12mm，長20mm 薄膜厚度：≥nm量級 薄膜樣品與基板要求緣 |
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控溫精度 |
±0.5K |
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測量精度 |
塞貝克系數：＜±７％； 電阻系數：＜±７％ |
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測量原理 |
塞貝克系數：靜態直流電； 電阻系數：四端法 |
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測量范圍 |
塞貝克系數：0.5μV/K_25V/K； 電阻系數：0.2Ohm-2.5KOhm/10MΩ |
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分辨率 |
塞貝克系數：10nV/K； 電阻系數：10nOhm |
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氣 氛 |
減壓Ｈｅ |
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