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價(jià)格：電議
所在地：北京
型號(hào)：
手機(jī)：18210063398
電話：010-60414386
更新時(shí)間：2024-09-18
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公司地址：北京順義北小營(yíng)
18210063398 
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我們?yōu)槟闾峁┎牧媳碚鳒y(cè)量的一系列產(chǎn)品：
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一表征：壓電材料d33測(cè)量?jī)x
1、ZJ-3型壓電測(cè)量?jī)x
2、ZJ-4型d33測(cè)量?jī)x
3、ZJ-5型積層壓電測(cè)試儀
4、ZJ-6型靜壓電d33/d31/d15測(cè)量?jī)x
5、ZJ-7型高溫壓電測(cè)試儀
★壓電極化裝置
1、PZT-JH10/4壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-4片）
2、PZT-JH10/8壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-8片）
3、PZT-JH20/8高壓電極化裝置（20KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-8片）
4、PZT-FJH20 /3高壓真空，空氣極化裝置（20KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣）
★ 壓電制樣裝置
1、ZJ-D33-YP15壓電陶瓷壓片機(jī)（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2
2、ZJ-D33-SYP30電動(dòng)型壓電陶瓷壓片機(jī)（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）
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第二表征 鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)及電滯回線測(cè)量系統(tǒng)
1、ZT-4C型綜合鐵電測(cè)量系統(tǒng)
2、JKZT-10A鐵電材料綜合參數(shù)測(cè)試儀
3、JKGT-G300高溫鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)
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第三表征 熱電材料分析測(cè)量系統(tǒng)及塞貝克系數(shù)測(cè)試儀
1、BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)
2、BKTEM-Dx熱電器件性能分析系統(tǒng)
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第四表征 介電材料測(cè)試系統(tǒng)
1、 常溫介電測(cè)量系統(tǒng)，常溫介電材料測(cè)試儀
2、 高溫介電測(cè)量系統(tǒng)，高溫介電材料測(cè)試裝置
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第四表征磁性材料測(cè)試系統(tǒng)
BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀
關(guān)鍵詞：熱電材料，Seebeck系數(shù)，電導(dǎo)率， 電阻率，V-1裝置
產(chǎn)品介紹：
BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀是我國(guó)熱電材料的領(lǐng)軍設(shè)備，是材料計(jì)劃中前沿裝備，其測(cè)試性能遠(yuǎn)超越外熱電材料測(cè)試儀，不僅可以用于塊體材料同時(shí)也可以用于薄材料的測(cè)試，是目前高等院校和材料研究所的重要設(shè)備。
對(duì)于熱電材料的研究，熱電性能測(cè)試是不可或缺的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下:
該裝置由，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫，采用四點(diǎn)法的方式測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。
一、BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀適用范圍：
1、地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。
3、塊體和薄膜材料測(cè)均可以測(cè)試。
4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。
5、擁有自身專利分析軟件，分析，過程自動(dòng)控制，界面友好。
6、高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。
7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域。
二、BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀技術(shù)特點(diǎn)：
·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題，靜態(tài)法測(cè)量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。
· 溫度檢測(cè)可采用J、K型熱電偶，降低測(cè)試成本。
·試樣采用獨(dú)特的焊偶機(jī)構(gòu)，保證接觸電阻小以及測(cè)量結(jié)果的高重現(xiàn)性。
· 每次可測(cè)試1-3個(gè)樣品.
· 采用數(shù)據(jù)采集技術(shù)，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差，可控溫場(chǎng)下同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率。
三：主要技術(shù)：
測(cè)量溫度 室溫-600℃
同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量 1個(gè)
測(cè)量功能 賽貝克系數(shù)和電阻率，薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率
控溫精度 0.5K
測(cè)量原理 塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法
測(cè)量精度 塞貝克系數(shù)：＜±7％；電阻系數(shù)：＜±10％
樣品尺寸 塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長(zhǎng)，薄膜材料：≥50 nm
熱電偶導(dǎo)距 ≥6 mm
電 流 0 to 160 mA
氣 氛 高純度氬氣
加熱電相數(shù)/電壓 單相，220V，
圖2 雙樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖
免責(zé)聲明：以上所展示的[ BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀]信息由會(huì)員[北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司]自行提供，內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)。
