一、低溫試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格有六大系列24種產(chǎn)品 :  W×H×D（mm）
HY-80G 內(nèi)箱尺寸: 400×500×400；外形尺寸：970×1360×970；
HY-150G 內(nèi)箱尺寸: 500×600×500；外形尺寸：1070×1460×1070；
HY-225G 內(nèi)箱尺寸: 500×750×600；外形尺寸：1070×1610×1170；
HY-408G 內(nèi)箱尺寸: 600×850×800；外形尺寸：1170×1710×1270；
HY-800G 內(nèi)箱尺寸: 1000×1000×800；外形尺寸：1550×1850×1290；
HY-1000G內(nèi)箱尺寸: 1000×1000×1000；外形尺寸：1550×1850×1470 ；
(可按客戶要求定做更大尺寸)

二、測試范圍:(依目錄之溫濕度比對圖形為主) 
溫度:常溫～-７０℃, 常溫～-4０℃ , 常溫～- 2０℃，常溫～０℃(共四種規(guī)格可選) 。

三、降溫速率: 大于每分鐘一度。

四、技術(shù)參數(shù): 
1.溫度解析精度:±0.2℃　　　　
2.溫度控制精度:(+/-) 0.5℃
3.溫 度顯示分辨率: 0.1℃ 
4.溫度分布均勻度:±1℃

五.機(jī)械板金結(jié)構(gòu) : 
1.內(nèi)箱材質(zhì):SUS#304 耐高低溫不銹鋼板. 
2.外箱材質(zhì):SUS#304 高張力,經(jīng)薄膜游離層表面處理之不銹鋼. 
3.保溫材質(zhì):高強(qiáng)度 PU 發(fā)泡與高密度之玻離纖維棉. 
4.防汗機(jī)件: 以系統(tǒng)Ｋ型管之熱能作防汗處理. 
5.風(fēng)路機(jī)件: 
⑴采用風(fēng)扇馬達(dá) + 銅質(zhì)加長軸心 + 耐高低溫之 鋁合金多翼式結(jié)構(gòu)循環(huán)風(fēng)扇,以達(dá)強(qiáng)制對流垂直擴(kuò)散循環(huán). 
⑵風(fēng)口可調(diào)式側(cè)吹出風(fēng)口及回加裝護(hù)網(wǎng)回風(fēng)口. 
6.測試門與機(jī)體采雙層耐高低溫之高張性 Silicon Packing , 以確保測試區(qū)之密閉. 
7.機(jī)器底部特殊手握槽,方便搬運(yùn). 
8.測試窗口采用多層防爆玻璃,內(nèi)側(cè)膠合片式加熱除霧器，照明設(shè)備使用新式 PL 型日光燈. 
9.測試區(qū)內(nèi)使用不銹鋼可調(diào)式活動(dòng)盤架二只. 
10.測試孔(機(jī)器左側(cè),50 mm)可外接測試電源線或信號(hào)線使用. (孔徑或孔數(shù)須增加屬 OPTION 配備) 
11.排水系統(tǒng)使用回渦型及 U 型積沈裝置排水．

六.加熱系統(tǒng): 
1.采用 U 型鰭片式高速加溫電熱器. 
2.完全系統(tǒng),不影響冷凍及控制線路. 
3.溫度控制輸出功率均經(jīng)由微電腦演算,以達(dá)與率之用電效益.

七.加濕及除濕系統(tǒng): 
1.采用電子并位方式微動(dòng)加濕系統(tǒng). 
2.加濕筒采整座不銹鋼制成,并附有水位觀測窗口. 
3.采蒸發(fā)器盤管露點(diǎn)溫度(ADP)層流接觸除濕方式. 
4.附過熱、溢流雙重保護(hù)裝置. 
5.加濕、除濕系統(tǒng)完全. 
6.水位控制采機(jī)械浮球水閥,杜電子式誤動(dòng)作. 
7.供濕水采連續(xù)進(jìn)水,不回收系統(tǒng).供水源及排水由使用單位負(fù)責(zé).

八.冷凍系統(tǒng): 
1.歐洲原裝進(jìn)口率省型冷凍壓縮機(jī). ( 法國泰康) 
2.全系統(tǒng)使用 R404 環(huán)保冷媒. (美國杜邦) 
3.全系統(tǒng)管路均作通氮加壓 24H 檢漏測試. 
4.加溫、降溫系統(tǒng)完全. 
5.內(nèi)螺旋式 K-TYPE 冷媒銅管. 
6.波浪狀鰭片型強(qiáng)迫送風(fēng)冷凝器. 
7.斜率式 FIN -TUBE 蒸發(fā)器. 
8.原裝進(jìn)口電磁閥;干燥過濾器;膨脹閥等冷凍組件. 
9.所有冷凍系統(tǒng)動(dòng)作程序,完全由微電腦控制器控制,可達(dá)zui率及省電的優(yōu)點(diǎn).

九.低溫試驗(yàn)箱遵循的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則