一、低溫試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格有六大系列24種產(chǎn)品 : W×H×D（mm）
HY-80G 內(nèi)箱尺寸: 400×500×400；外形尺寸：970×1360×970；
HY-150G 內(nèi)箱尺寸: 500×600×500；外形尺寸：1070×1460×1070；
HY-225G 內(nèi)箱尺寸: 500×750×600；外形尺寸：1070×1610×1170；
HY-408G 內(nèi)箱尺寸: 600×850×800；外形尺寸：1170×1710×1270；
HY-800G 內(nèi)箱尺寸: 1000×1000×800；外形尺寸：1550×1850×1290；
HY-1000G內(nèi)箱尺寸: 1000×1000×1000；外形尺寸：1550×1850×1470 ；
(可按客戶(hù)要求定做更大尺寸)
二、測(cè)試范圍:(依目錄之溫濕度比對(duì)圖形為主)
溫度:常溫～-７０℃, 常溫～-4０℃ , 常溫～- 2０℃，常溫～０℃(共四種規(guī)格可選) 。
三、降溫速率: 大于每分鐘一度。
四、技術(shù)參數(shù):
1.溫度解析精度:±0.2℃
2.溫度控制精度:(+/-) 0.5℃
3.溫 度顯示分辨率: 0.1℃
4.溫度分布均勻度:±1℃
五.機(jī)械板金結(jié)構(gòu) :
1.內(nèi)箱材質(zhì):SUS#304 耐高低溫不銹鋼板.
2.外箱材質(zhì):SUS#304 高張力,經(jīng)薄膜游離層表面處理之不銹鋼.
3.保溫材質(zhì):高強(qiáng)度 PU 發(fā)泡與高密度之玻離纖維棉.
4.防汗機(jī)件: 以系統(tǒng)Ｋ型管之熱能作防汗處理.
5.風(fēng)路機(jī)件:
⑴采用風(fēng)扇馬達(dá) + 銅質(zhì)加長(zhǎng)軸心 + 耐高低溫之 鋁合金多翼式結(jié)構(gòu)循環(huán)風(fēng)扇,以達(dá)強(qiáng)制對(duì)流垂直擴(kuò)散循環(huán).
⑵風(fēng)口可調(diào)式側(cè)吹出風(fēng)口及回加裝護(hù)網(wǎng)回風(fēng)口.
6.測(cè)試門(mén)與機(jī)體采雙層耐高低溫之高張性 Silicon Packing , 以確保測(cè)試區(qū)之密閉.
7.機(jī)器底部特殊手握槽,方便搬運(yùn).
8.測(cè)試窗口采用多層防爆玻璃,內(nèi)側(cè)膠合片式加熱除霧器，照明設(shè)備使用新式 PL 型日光燈.
9.測(cè)試區(qū)內(nèi)使用不銹鋼可調(diào)式活動(dòng)盤(pán)架二只.
10.測(cè)試孔(機(jī)器左側(cè),50 mm)可外接測(cè)試電源線(xiàn)或信號(hào)線(xiàn)使用. (孔徑或孔數(shù)須增加屬 OPTION 配備)
11.排水系統(tǒng)使用回渦型及 U 型積沈裝置排水．
六.加熱系統(tǒng):
1.采用 U 型鰭片式高速加溫電熱器.
2.完全系統(tǒng),不影響冷凍及控制線(xiàn)路.
3.溫度控制輸出功率均經(jīng)由微電腦演算,以達(dá)與率之用電效益.
七.加濕及除濕系統(tǒng):
1.采用電子并位方式微動(dòng)加濕系統(tǒng).
2.加濕筒采整座不銹鋼制成,并附有水位觀測(cè)窗口.
3.采蒸發(fā)器盤(pán)管露點(diǎn)溫度(ADP)層流接觸除濕方式.
4.附過(guò)熱、溢流雙重保護(hù)裝置.
5.加濕、除濕系統(tǒng)完全.
6.水位控制采機(jī)械浮球水閥,杜電子式誤動(dòng)作.
7.供濕水采連續(xù)進(jìn)水,不回收系統(tǒng).供水源及排水由使用單位負(fù)責(zé).
八.冷凍系統(tǒng):
1.歐洲原裝進(jìn)口率省型冷凍壓縮機(jī). ( 法國(guó)泰康)
2.全系統(tǒng)使用 R404 環(huán)保冷媒. (美國(guó)杜邦)
3.全系統(tǒng)管路均作通氮加壓 24H 檢漏測(cè)試.
4.加溫、降溫系統(tǒng)完全.
5.內(nèi)螺旋式 K-TYPE 冷媒銅管.
6.波浪狀鰭片型強(qiáng)迫送風(fēng)冷凝器.
7.斜率式 FIN -TUBE 蒸發(fā)器.
8.原裝進(jìn)口電磁閥;干燥過(guò)濾器;膨脹閥等冷凍組件.
9.所有冷凍系統(tǒng)動(dòng)作程序,完全由微電腦控制器控制,可達(dá)zui率及省電的優(yōu)點(diǎn).
九.低溫試驗(yàn)箱遵循的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
免責(zé)聲明：以上所展示的[HY系列 低溫試驗(yàn)箱]信息由會(huì)員[東莞恒優(yōu)儀器設(shè)備有限公司]自行提供，內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)。
