CJ-JX2000A/B 顯微圖像分析儀

北京恒奧德儀器儀表有限公司

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企業認證：

價格：電議

所在地：北京

型號：CJ-JX2000A/B

手機：15010245973

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更新時間：2024-06-13

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公司地址：北京市海淀區

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產品簡介

顯微圖像分析儀型號：CJ-JX2000A/B CJ-JX2000A型：應用范圍：配置透射顯微鏡，適用于電子

公司簡介

公司主營不銹鋼采水器，罐底焊縫真空檢測盒，八級空氣微生物采樣器，涂層測厚儀，土壤粉碎機，腐蝕率儀，凝固點測試儀，水質檢測儀，涂層測厚儀，涂層測厚儀，土壤粉碎機，數顯式溫度計，氣體采樣泵，水質檢測儀，PM2.5測試儀，牛奶體細胞檢測儀，氦氣濃度檢測儀，土壤水分電導率測試儀，場強儀，毛細吸水時間測定儀，氧化還原電位計測振儀，一氧化碳二氧化碳檢測儀，黏泥含量測試儀，自動電位滴定儀，便攜式測溫儀，干簧管測試儀，電導率儀，水質分析儀，土壤氧化還原電位計，數字測溫儀，便攜式總磷測試儀，腐蝕率儀，余氯檢測儀，顆粒強度測試儀，高斯計，自動涂膜機，雨量計，四合一氣體分析儀，溶解氧儀，薄層鋪板器，溫度記錄儀，動覺方位儀，菌落計數器，雨量計，毛細吸水時間測定儀，污泥比組測試儀，大氣采樣器，流速儀，體積電阻率測試儀，照度計，涂布機，老化儀。

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產品說明

顯微圖像分析儀型號：CJ-JX2000A/B

CJ-JX2000A型：
應用范圍：配置透射顯微鏡，適用于電子、磨料、陶瓷、藥品、涂料、水泥、化、食品、農藥、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、嶺土、硬質合金、催化劑、燃料、藥、云母粉、耐火材料、填料、石墨、顏料等各種粉末物料，玻璃纖維，礦巖成分判斷（偏光）。

CJ-JX2000B型：
應用范圍：配置透反射顯微鏡，適用于冶金、電子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、藥、金屬、非金屬礦等各種粉體顆粒的形貌觀察和粒度分析；還可用于陶瓷.金屬合金等各種不透光的物體表面結構的觀察測試。

產品簡介：

主要性能：光學顯微鏡放大成像，專業攝像頭，速分辨率圖像采集卡，圖像動態快速顯示于電腦，直接觀察粉體顆粒的形貌，專用軟件行粒度分析。平場消色差物鏡，zui大分辨率0.07微米，zui大光學放大倍數1600倍，圖像顯示和打印zui大倍數4000倍(A4幅面)。

測量范圍： 0.5μm～2000μm

測量方法： 透射：將樣品置于載玻片上，運行專用軟件，由電腦分析處理，計算數據。
            反射：將樣品置于物鏡下方，運行專用軟件，由電腦分析處理，計算數據。

分析軟件：提供等面積和等周長兩種基準下的個數、直徑、面積、體積等分布數據。同時提供D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等數據，配有多種圖像分析和處理能，可以滿足各種圖像處理需要。

圖像分析處理：
  1.色調處理：負像、灰度化、色調調整、亮度、對比度調整；
  2.圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針)、90度(順時針) 、旋轉、放大、縮小、意比例縮放等；
  3.測量單位：微米、毫米、厘米、英吋選；
  4.圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等；
  5.圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標擦除、孔洞填充，手擦除，手連接，粒子屬性查看、設置標尺、網格等能；
  6.分析參數：
（1）幾何參數：每個顆粒的質心 X、Y 坐標位置，像素；
（2）當量幾何參數：等面積圓直徑，等周長圓直徑，長徑，短徑，長徑比；
（3）外接幾何參數：每個顆粒的外接圓直徑；
（4）光密度參數：圖像 R、G、B、灰度分布；
（5）形態學參數：長徑比，圓度系數；

測量結果：顆粒形貌可存盤打印，還可輸出多種格式的測試報告。另可根據行業特殊要求，設計磨料、
硅灰石等專用軟件。