產品簡介
裸片及鍍膜片 全光譜 反色率、色度、膜厚測量儀 型號: XH-LAB-RC硅晶電池片表面制絨效果對電池片效率提高扮演著非常重要的角色。
公司簡介
北京羲和陽光科技發展有限公司是一家新能源科技公司,致力于太陽能光伏產業。提供光伏生產所用硅料的分選、檢驗、檢測設備及相關設備配件,幫助您識別高質量的硅料,減少采購或銷售的風險。
我公司經營的主要產品有:硅料分選測試儀(電阻率,PN型識別)、電阻測試儀、排重摻測試儀、少子壽命測試儀、測厚儀、碳氧磷硼含量測試儀,表面線痕測試儀,光譜橢偏儀,透過率測試儀、相關產品配件,以及鎵摻雜劑、母合金摻雜劑,異丙醇,雙氧水等耗材。
羲和的名稱來源于中國的太陽神羲和女神,作為太陽能光伏產業的一份子,為提高太陽能電池生產過程的可控性,最大限度的減少過程風險,羲和科技在不懈追求、積極探索,我們深感肩頭的重任,我們會倍加努力,持之以恒,給您提供最優質的產品、最優惠的價格和最滿意的服務。
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產品說明
裸片及鍍膜片 全光譜 反色率、色度、膜厚測量儀
型號: XH-LAB-RC
硅晶電池片表面制絨效果對電池片效率提高扮演著非常重要的角色。電池片的制絨減少了因為反射而丟失的光,并且對電池片的鈍化效果也有很大的影響。另外就制絨工藝本身來講,硅片材料和硅片切割效果對其也有影響。因此,很有必要獲得制絨效果的詳細信息,從制絨后整理體反射率光譜的精確測量可以獲得這些重要的信息。
XH-LAB-RC是一款很好的化學制絨工藝測量,分析和工藝優化的工具,同時也可以測量鍍膜后硅片的膜厚和顏色。可進行雙面x,y全自動測量;保證測量的精準度。
系統使用簡單,無需操作人員具有專業的技能。因為系統有手動的單軸移動平臺,所以能快速進行線性掃描。用戶可以在移動的硅片上進行連續性測量,也可以測量硅片上的固定點。系統可自動生成測試報告并存儲數據。
測量原理
系統利用一個寬頻譜的鹵素燈作為光源,反射光被特別設計的積分球收集并探測,積分球通過光纖與一個高精度光譜儀連接。不管樣品表面是絨面還是拋光面,所有的反射光和散射光都會被收集測量,整體光譜反射率的值及變動情況可以用來管控硅片的制絨工藝,同時可以測量出鍍膜硅片的總的反射損失。通過標準邏輯運算,可計算出在不同顏色空間的顏色值,如Lab,xyY顏色空間等。
薄膜的上表面和下表面反色光由于相位不同而發生干涉,干涉光譜的頻率與膜厚是成正比的。這種現象用來計算硅片的膜厚。的計算方法是通過擬合測量光譜和薄膜理論光譜,使其吻合,計算出薄膜的實際厚度。
系統特點
■ 全波段整體反射率測量
■ 任意波段zui小反射率及對應波長測量
■ 自定義單一波長反射率測量
■ 任意波段平均反射率測量
■ 鍍膜膜層厚度測量
■ 色度計算
■ 集成參考校正片
■ 用戶自定門限設置
■ Goog/Bad指示
■ 手動單軸測試臺
■ 手動全硅片Mapping
■ 測量速度快, <0.8s /點
■ 可以提供第三方認證標片(選項)
■ 裸片和鍍膜片的測量:
-離線
-非接觸式
-靜態單點測量
■ 測量參數:
-反射率: r(全光譜)
-色度: c(Lab, xyY , ...)
-膜厚 r(鍍膜片)
■ 應用范圍:
-多晶(拋光、粗糙、絨化)
-單晶(拋光、粗糙、絨化)
-125mm×125mm / 156mm×156mm
■ 應用在所有向光制絨工藝
-化學蝕刻(酸/堿)
-RIE(離子反應蝕刻)
■ 操作簡單
-只需點擊測量按鈕,即出測量結果
-手動單軸移動測試臺,可全硅片Mapping
-線性掃描簡單
技術參數
■ 測量參數: 反射率/膜厚/色度
■ 反射率范圍: 0-100%
■ 波長范圍: 380-1070nm
■ siN膜厚: 25-120nm
■ siO膜厚: 35-169nm
■ 反射率精度: ±0.1%
■ 反射率重復性: <0.05%
■ 膜厚精度:±1nm
■ 膜厚重復性: ±0.2nm
■ 色度表達: Lab/xyY/XYZ/Lch
■ 色度精度: x,y 3 σ±0.004/Y3σ±0.5
■ 色度重復性:x,y 3 σ<0.002/Y3σ<0.2
■ 測量光斑: ~8mm
■ 測量速度: 0.8s/點
■ 硅片尺寸: 156mm×156mm/ 125mm×125mm/ 圓形或更小
■ 樣品臺: 310*160mm
■ 環境溫度: 15-35℃
■ 濕度: <90%
■ 電源: AC100-240;50/60Hz
■ PC要求: WindowXP, 2GB RAM, >100GB HDD
硅片 鍍膜后 印刷后 組件
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