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全自動微區膜厚測試儀
發布時間：2022-11-28瀏覽次數：1236返回列表
全自動微區膜厚測試儀
產品說明、技術參數及配置
EDX 2000A全自動微區膜厚測試儀是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光膜厚測量技術，專門研發的一款上照式膜厚測試儀。相比于傳統的鍍層測厚設備，不僅在常規的傳統電鍍上表現加優異，能很好地滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。儀器外觀簡潔大方，通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動 ， 雙激光定位和保護系統 ， 實現對平面 、 凹凸 、 拐角 、 弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦分析。
應用領域
電鍍行業
電子通訊
航天新能源
五金衛浴
電器設備
汽車制造
磁性材料
貴金屬電鍍
高校及科研院所等
設計亮點
上照式設計，可適應多異型微小樣品的測試。
全新的光路，短的光程，相較傳統光路，信號采集效率提升2倍以上。
可變焦高精攝像頭，搭配距離補正系統，不僅可適應微小產品，同時也兼顧了臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求。
可編程多點測試，能自動完成對多個樣品多個點的測試，大大提高測樣效率。
自帶數據校對系統，讓您永遠不再為數據突然變化而擔心。
超高硬件配置
采用進口高分辨率的FAST SDD探測器，高達140ev分辨率，能地解析每個元素的特征信號，針對復雜底材以及多層復雜鍍層，優勢巨大。
進口的高功率大高壓單元搭配進口大功率X光管，能很好的保障信號輸出與激發的穩定性，同時，故障率也極大的降低。
自動化的X軸，Y軸以及Z軸的三維聯動，快速地完成對微小異型（如弧形、拱形、螺紋、球面等）測試點的定位。
軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得加便捷。
曲線的中文備注，讓您的操作易上手。
儀器硬件功能的實時監控，讓您的使用加放心。
