上市時(shí)間：2009年3月
創(chuàng)新點(diǎn):1.附帶FP實(shí)際金屬、貴金屬、RoHS分析、無(wú)鹵化塑膠回歸的檢測(cè)曲線，集多種應(yīng)用于一身。該曲線采用大量金屬及貴金屬標(biāo)準(zhǔn)樣品繪制，代表性強(qiáng)，實(shí)用性強(qiáng)，準(zhǔn)確度高。分析數(shù)據(jù)可同時(shí)顯示K金值及含量。
2.采用高分辨，高計(jì)數(shù)率，電制冷的SDD檢測(cè)器，實(shí)際分辨率160eV，計(jì)數(shù)率高達(dá)250,000cps，非常適合高含量樣品的分析。該計(jì)數(shù)器具有先進(jìn)性及維護(hù)簡(jiǎn)單，無(wú)需繁瑣而危險(xiǎn)的液氮添加過(guò)程。
3.激光配合CCD攝像機(jī)雙定位，樣品分析點(diǎn)可視，可調(diào)。定位精度高。分析點(diǎn)的照片可截屏，出具報(bào)告時(shí)可以粘貼在報(bào)告中。
4.分析速度快，可在180秒內(nèi)完成各類(lèi)樣品的分析任務(wù)
5.可選配狹縫交換器，測(cè)試點(diǎn)的尺寸可調(diào)，由0.2毫米至3.3毫米?？赏瑫r(shí)分析同一樣品的各個(gè)部分，一般分析點(diǎn)的尺寸為1毫米。
6.可選配XYZ微米級(jí)精度全自動(dòng)樣品臺(tái)，完成點(diǎn)，線，面掃描。一次測(cè)量過(guò)程可同時(shí)分別完成多個(gè)樣品的分析。
7.超大樣品室，可完成超大樣品的分析，樣品的尺寸可以達(dá)到300*200*150mm（長(zhǎng)*寬*高）。同時(shí)可完成超小樣品1mm樣品的分析
詳細(xì)信息儀器簡(jiǎn)介：

　　在工業(yè)及科研領(lǐng)域，經(jīng)常需要對(duì)樣品進(jìn)行非破壞性的元素分析，同時(shí)對(duì)分析面積及靈敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，貴金屬檢測(cè)等。 黃金珠寶、牙科合金材料及其他稀有金屬的分析要求高精度，非破壞性而且測(cè)量點(diǎn)小。德國(guó)斯派克分析儀器公司新推出的SPECTRO MIDEX　X 射線熒光能譜儀正是滿足了這一要求，可迅速、準(zhǔn)確地提供分析數(shù)據(jù)。根據(jù)市場(chǎng)要求，德國(guó)斯派克分析儀器公司對(duì)儀器進(jìn)行了擴(kuò)展而優(yōu)化，使SPECTRO MIDEX 儀器在分析性能和使用靈活性方面獨(dú)樹(shù)一幟。


　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測(cè)系統(tǒng)，集準(zhǔn)直、聚焦、樣品激發(fā)于一體，是功能強(qiáng)大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX　適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調(diào)節(jié)的樣品臺(tái)。通過(guò)20倍變焦攝像機(jī)可精確地確定測(cè)量位置。儀器配有計(jì)算機(jī)和專(zhuān)業(yè)化的軟件，使操作極為簡(jiǎn)便。測(cè)量點(diǎn)直徑為0.7mm,樣品的總測(cè)量時(shí)間不超過(guò)100秒。在測(cè)定稀有金屬合金中的金含量時(shí),樣品的測(cè)量精度為0.15%。SPECTRO MIDEX　也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內(nèi)可完成從鋁到鈾的所有數(shù)十種元素的分析。
　　SPECTRO MIDEX 不僅僅適用于珠寶行業(yè)、貴金屬檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)，海關(guān)商檢、造幣工業(yè)等，還可完成其它分析任務(wù)如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。


　　　　
　　



技術(shù)參數(shù)：

激發(fā)
- Mo 靶X光管
zui大功率：30W,zui大電壓：48kV
- 測(cè)量點(diǎn)尺寸
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm


樣品室
- 可顯示樣品的攝像系統(tǒng)(可調(diào)焦)
- 手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品臺(tái)，樣品定位簡(jiǎn)便
- 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)精確移動(dòng)的XYZ樣品臺(tái)，
zui大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(寬x深x高)，
zui大樣品重量：3kg/6.6 lbs

計(jì)算機(jī)
- 外置式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，Windows
操作系統(tǒng)，
- 鍵盤(pán)，鼠標(biāo)，顯示器，打印機(jī)
- 菜單式軟件，光譜儀參數(shù)調(diào)整和
數(shù)據(jù)評(píng)估及計(jì)算，元素成分及分布顯示


檢測(cè)器
- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測(cè)器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα線，在測(cè)量計(jì)數(shù)率為
10，000脈沖計(jì)數(shù)時(shí)， 能量分辨率：FWHM< 160 eV
- 微處理器控制的檢測(cè)器和讀出電路
- 脈沖計(jì)數(shù)率可達(dá)250，000 cps

光譜儀數(shù)據(jù)
- 電壓：95-120V/200-240V,50/60 Hz,
- 光譜儀能耗：200W
- 儀器尺寸 寬x 深 x 高，單位mm
580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”
- 底座尺寸寬x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根據(jù)不同配置

分析
- 用于合金元素分析的基本參數(shù)程序FP +
- 塑料及復(fù)合材料的RoHS指令檢測(cè)

環(huán)境條件
- 周?chē)h(huán)境溫度：5-30°C （41-85°F）
在20-25°C （68-77°F）下，可達(dá)到標(biāo)定儀器性能
- 在 25°C (77°F)下相對(duì)濕度: 10-80 %，無(wú)冷凝，無(wú)蒸氣腐蝕，防塵



主要特點(diǎn)：

SPECTRO MIDEX X射線熒光能譜儀是新推出的第三代產(chǎn)品，不僅可對(duì)樣品的微小區(qū)域進(jìn)行快速無(wú)損的檢定，還可對(duì)超大樣品的表面（面積可達(dá)EC標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2倍， 233x160 mm）進(jìn)行元素分布分析。