JKZC-YDZK50M型1000℃高溫阻抗分析儀

日期：2023-11-15 點擊：408 查看原圖

簡介：

圖庫說明

JKZC-YDZK50M型1000℃高溫阻抗分析儀

關(guān)鍵詞：阻抗，高溫，導(dǎo)納圖，掃描,50MHZ

JKZC-YDZK50M型1000℃高溫阻抗分析儀是一款兼容高溫功能的阻抗分析儀，是一款能夠應(yīng)用于材料測試的多功能復(fù)合型阻抗分析儀，該阻抗分析儀可以兼容多種高溫夾具，可以測試粉末，液體，塊體等多種不同類型的樣品。常溫下測試數(shù)據(jù)豐富，高溫下測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，無漂移。是一款兼顧中高端頻率的阻抗分析儀。在陶瓷及材料生產(chǎn)中和科研院校廣泛使用。

一、主要應(yīng)用：

1、材料測試：高溫及常溫介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

2、高溫及常溫?zé)o源元件測試：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。

3、高溫及常溫半導(dǎo)體元件：LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

4、高溫及常溫其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評估

5高溫及常溫介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

6、高溫及常溫磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估

7、高溫及常溫半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

二、主要特點：

1、高溫及常溫進(jìn)行材料測試阻抗各參數(shù)測試：諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點F1與F2、導(dǎo)納Gmax、靜電容C0、動態(tài)電抗R1、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、自由電容CT、自由介電常數(shù)、機(jī)械品質(zhì)因素Qm、機(jī)電耦合系數(shù)Keff、Kp、K31、K33等

2、多種探頭滿足壓電陶瓷，液體，及粉末相關(guān)電學(xué)性能測試

3、高溫夾具及常溫測試裝置，設(shè)計精巧靈活，測試數(shù)據(jù)可靠

4、50MHZ高頻阻抗頻率滿足高端測試需求

5、1000攝氏度高溫條件下測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定無漂移，曲線與溫度對應(yīng)

6、軟件功能豐富，數(shù)據(jù)即讀取，方便快捷

三、主要技術(shù)參數(shù)：

1、頻率范圍：20HZ-50MHZ

2、溫度：室溫-1000℃

3、阻抗參數(shù)：諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點F1與F2、導(dǎo)納Gmax、靜電容C0、動態(tài)電抗R1、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、自由電容CT、自由介電常數(shù)、機(jī)械品質(zhì)因素Qm、機(jī)電耦合系數(shù)Keff、Kp、K31、K33等