江門(mén)萬(wàn)濠VMS-5040HCNC全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x代理商 

    上世紀(jì)90年代人們開(kāi)始對(duì)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x動(dòng)態(tài)特性進(jìn)行研究。1991年，C.Butler等人對(duì)測(cè)頭的動(dòng)態(tài)特性及其誤差進(jìn)行了的研究分析。1997年，Weekers得出三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的動(dòng)態(tài)誤差與其各個(gè)組成部分及氣浮導(dǎo)軌連接處的偏轉(zhuǎn)以及運(yùn)動(dòng)部件的彎曲有關(guān)的結(jié)論，進(jìn)而總結(jié)出快速測(cè)量動(dòng)態(tài)誤差的方法模型。董晨松等人在1998年提出用激光干涉儀測(cè)量坐標(biāo)測(cè)量?jī)x機(jī)體聯(lián)結(jié)處的角度變化來(lái)研究機(jī)體的動(dòng)態(tài)特性方法，這種方法的依據(jù)是:直接測(cè)量運(yùn)動(dòng)過(guò)程中由加速度引起的主要的動(dòng)態(tài)連接副處轉(zhuǎn)角誤差，對(duì)動(dòng)態(tài)誤差建立數(shù)學(xué)模型，計(jì)算這些誤差對(duì)測(cè)頭位置的影響。在21世紀(jì)初期，H.E.F.Castro用激光干涉儀對(duì)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的動(dòng)態(tài)誤差進(jìn)行校準(zhǔn)，Estler等人在觸發(fā)式測(cè)頭方面開(kāi)始研究的比較早也比較深入，建立了觸發(fā)式測(cè)頭的動(dòng)態(tài)誤差模型;RolandP.Johnson等通過(guò)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)分析了三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x中運(yùn)動(dòng)參數(shù)對(duì)測(cè)頭動(dòng)態(tài)誤差的影響;Cauchick-Miguel對(duì)影響三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x觸發(fā)式測(cè)頭觸測(cè)誤差的因素進(jìn)行了研究; M.Dobosz和A. Wozniak在對(duì)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的各個(gè)運(yùn)動(dòng)參數(shù)對(duì)測(cè)頭預(yù)行程變化的影響進(jìn)行分析后建立了測(cè)量?jī)x測(cè)頭預(yù)行程的三維理論模型，并通過(guò)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行了驗(yàn)證。W.P. van Vliet通過(guò)研究發(fā)現(xiàn)了使三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x觸測(cè)速度提高發(fā)生困難的原因，一個(gè)是指觸測(cè)產(chǎn)生的沖擊力，另一個(gè)是指工件與測(cè)端的反彈作用。James對(duì)掃描式測(cè)頭和觸發(fā)式測(cè)進(jìn)行了對(duì)比:掃描式的測(cè)頭通常在高速測(cè)量時(shí)使用，在對(duì)要求不高的情況下通常使用觸發(fā)式測(cè)頭。