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平均粒度測試儀/平均粒度檢測儀 型號:HAD-WLP-209HAD-WLP-209型平均粒度測試儀根據標準(費氏法)要求,在對被測粉末試樣施...
HAD-WLP-209型平均粒度測試儀根據標準(費氏法)要求,在對被測粉末試樣施壓時,采用了LTDK型可設定空轉式扭矩起子,(非同其他儀器所使用無科學依據的壓力校正器)。采用LTDK型扭矩起子,可使何操作人員在對粉末測試過程中均可達到相同的壓制力,地得到同種孔隙度,消除了人為誤差,使被測粉末粒徑加,同時本儀器配有雙向擴展讀數板,孔隙度范圍由原來的0.80—0.40(擴到0.95—0.80、擴到0.40—0.25),滿足了各種粉末測試需求。
術標:
1、度:±3%
2、測試范圍: 0.2-50 μ m (微米)
檔: 0.2-20 μ m
二檔: 20-50 μ m
3.孔隙度范圍:0.95-0.80
0.80-0.40
0.40-0.25
4、度:±3%
5、環境濕度:相對濕度 ≤80%
6、環境溫度: 25 ± 10 ℃
7、電源: ~220 ± 22V 50赫茲
8、率: 25W
9、重量: 18kg
10、外型尺寸: 746 × 394 × 240mm3
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