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手持測膜儀 型號：DP-HLOWE0001日期：2017-07-05 點擊：269 返回列表  手持LOWE玻璃膜面檢測儀 玻璃膜面檢測儀 手持測膜儀
型號：DP-HLOWE0001 1.技術參數(shù)： 1）電源規(guī)格：9伏電壓驅動； 2） |
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詳細信息
手持LOWE玻璃膜面檢測儀 玻璃膜面檢測儀 手持測膜儀
型號：DP-HLOWE0001
1.技術參數(shù)：
1）電源規(guī)格：9伏電壓驅動；
2）物理尺寸：100*60*31；
3）存放溫度：-20到+55 ℃；
4）操作溫度：0到+45 ℃；
5）zui大輸出功率：〈20mW；
6）使用壽命：30000-50000小時
2．注意事項：保持待測樣片及檢測儀潔凈；檢測儀要在正常供電范圍內；檢測過程中不要用手和其導體或半導體物體接觸樣片；不要在超高的溫度下操作。
3.用途概述：
Low-E玻璃又稱低輻射玻璃，是在玻璃表面鍍上多層金屬或其他化合物組成的膜系產品。其鍍膜層具有對可見光高透過及對中遠紅外線高反射的特性，使其與普通玻璃及傳統(tǒng)的建筑用鍍膜玻璃相比，具有明顯。但LOW-E膜很易損壞，對接觸法檢測可能一定程度有可能損壞玻璃膜面，那么就需要一種非接觸的檢測方法來檢測，手持檢測是一種好的檢測方法
