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超聲波測厚儀DP-MiniTest 400/400A/400B 作用日期：2017-04-18 點擊：181 返回列表  超聲波測厚儀DP-MiniTest 400/400A/400B
高精準超聲波測厚儀 高阻抗雙晶探頭 脈沖－回波方式 量程達0.65-400mm 回波－回波方式(透過 |
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詳細信息
超聲波測厚儀DP-MiniTest 400/400A/400B
高超聲波測厚儀
高阻抗雙晶探頭
脈沖－回波方式 量程達0.65-400mm
回波－回波方式(透過涂層測量) 量程達3-25mm
堅固的防靜電、防火塑料外殼。
快速測量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。
適合實驗室及工業(yè)現(xiàn)場使用。
適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的檢測。
適用于煉油、鋼鐵、冶金、造船、機械、化工、電力、原子能等各工業(yè)部門的產(chǎn)品檢驗。
DP-MiniTest 400
操作簡便，易于使用。將探頭放置到被測物體表面上，即可讀出所測厚度的數(shù)據(jù)，或是將探頭沿被測物體表面拖動，即可找出所測物體厚度薄點位置。
DP-ＭiniTest 400A
超聲波測厚儀具有MiniTest 400全部功能外，新增了下列功能：
探頭自動識別
開機自動校零
預(yù)置9種常用材料聲速值
數(shù)據(jù)分組
USB接口上傳
聲速測量
設(shè)限測量
zui小值測量
差值測量
DP-ＭiniTest 400B
超聲波測厚儀具有MiniTest 400A全部功能外，新增了下列功能：
回波－回波測量(透過涂層測量)
標準配置 可選配置
儀器主機 階梯試塊，通訊電纜，通訊軟件，高溫探頭等，詳情請咨詢當(dāng)?shù)亟?jīng)
帶連接電纜的探頭一支 銷商。
耦合劑
2節(jié)5號電池
塑料手提箱
中英文說明書
保修卡
技術(shù)參數(shù)
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項目
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參數(shù)
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400
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400A
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400B
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顯示信息
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測量值，聲速值，探頭型號，電池電量，當(dāng)前數(shù)據(jù)組 |
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測量范圍
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回波－回波測量：3mm-25mm |
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| 發(fā)射－回波測量：0.65mm-400mm(不同型號探頭決定不同測量范圍) |
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示值精度
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小于99.99mm時為0.01mm;大于100mm時為0.1mm |
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單位
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公制/英制 |
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聲速范圍
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1000m/s - 9999m/s, |
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增益
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自動 |
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| 手動 |
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聲速測量
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確定未知聲速材料的聲速，預(yù)置9種常用材料聲速值 |
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探頭識別
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自動識別探頭 |
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| 零位校準 | 開機自動零位校準 |
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測量模式
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發(fā)射－回波模式 | 標準測量：滿足常用的檢測要求 |
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| zui小值測量：滿足曲面或需要選擇zui小值的測量環(huán)境 |
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| 差分測量：顯示實際測量值與設(shè)定標準值的差值 |
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| 平均測量：提供2-9點的測量平均值 |
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| 上下限測量：限報警 |
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| 回波－回波模式 | 透過涂層測量基體厚度 |
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| 快速掃查模式 | 適用于高溫或需要提高測量速度的測量環(huán)境，每秒10次的測量，可以同時顯示測量中的zui大值和zui小值 |
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數(shù)據(jù)存儲
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1組600個數(shù)據(jù) |
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| 10組5000個數(shù)據(jù)，動態(tài)分配 |
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數(shù)據(jù)輸出
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USB接口，通過USB接口上傳儀器中存儲的數(shù)據(jù)到計算機 |
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關(guān)機選擇
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可選擇2分鐘，5分鐘自動關(guān)機或選擇不自動關(guān)機 |
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外形尺寸
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130 × 73 × 24 mm(L×W×H) | ||||
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重量
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約190g | ||||
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工作溫度
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-20至50攝氏度 | ||||
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電池
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兩節(jié)5號電池，電量顯示，電量不足報警 | ||||
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工作時間
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不間斷測量不少于80小時 | ||||
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顯示屏
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128×64 背光 | ||||
DP-Minitest400可選探頭：
| 型號 | 晶體直徑 | 頻率 | 測量范圍 | 工作溫度 | 簡介 | |
| P4 | 4MM | 10.0MHZ | 0.8-20MM | -12-+60℃ | 小管徑探頭 | |
| P6 | 6MM | 7.5MHZ | 0.8-150MM | -12-+60℃ | 主要用于薄壁及小弧面的測量. | |
| P8 | 8MM | 5.0MHZ | 0.8-350MM | -12-+60℃ | 標配探頭，主要用于測量表面為平面或者較大弧度的材料。 | |
| P12 | 10MM | 5.0MHZ | 1.0-500MM | -12-+60℃ | 測厚探頭，主要用于測量厚度100-500MM的物體. | |
| ECP12 | 12MM | 2.5MHZ | 3-50MM | -12-+75℃ | 粗晶探頭，主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測量. | |
| PHT12 | 12MM | 5.0MHZ | 1.2-350MM | -12-+350℃ | 高溫探頭，主要用于測量溫度小于350℃的材料的測量，注：測量時晶體與被測高溫物體的接觸時間不得大于5S. | |
| PHT12 | 12MM | 5.0MHZ | 1.2-350MM | -12-+550℃ | 高溫探頭，主要用于測量溫度小于550℃的材料的測量，注：測量時晶體與被測高溫物體的接觸時間不得大于5S. | |
DP-Minitest400A/B可選探頭：
| 型號 | 晶體直徑 | 頻率 | 測量范圍 | 工作溫度 | 簡介 |
| EP8E | 8MM | 5.0MHZ |
3-25MM(E-E)
0.8-300MM(T-E)
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-12-+60℃ | 400B獨有探頭，具有透過涂層測量模式 |
| EP4 | 4MM | 10.0MHZ | 0.65-20MM | -12-+60℃ | 小管徑探頭 |
| EP6 | 6MM | 7.5MHZ | 0.65-50MM | -12-+60℃ | 主要用于薄壁及小弧面的測量. |
| EP8 | 8MM | 5.0MHZ | 0.8-350MM | -12-+60℃ | 標配探頭，主要用于測量表面為平面或者較大弧度的材料。 |
| ECP12 | 12MM | 2.0MHZ | 2.0-400MM | -12-+60℃ | 粗晶探頭，主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測量. |
| EHP13 | 13MM | 5.0MHZ | 3.0-200MM | -12-+350℃ |
高溫探頭，主要用于測量溫度小于350℃的材料的測量，
注：測量時晶體與被測高溫物體的接觸時間不得大于5S.
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