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數顯薄膜測厚儀/薄膜測厚儀 型號：DP-CH-12.7-STSX 概述日期：2017-03-21 點擊：140 返回列表  數顯薄膜測厚儀/薄膜測厚儀 型號：DP-CH-12.7-STSX
分度值：0.001mm 測 |
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詳細信息
數顯薄膜測厚儀/薄膜測厚儀 型號：DP-CH-12.7-STSX
分度值：0.001mm
測量范圍及準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
適用于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（zui大測量深度為80mm）
GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
