產品簡介
品牌蘇博電氣型號SBJDCS-C 測量范圍200kHz-160MHz（Hz） 準確度1 ％ 適用范圍緣材料的測試 SBJDCS-
產品說明
| 品牌 | 蘇博電氣 | 型號 | SBJDCS-C |
| 測量范圍 | 200kHz-160MHz（Hz） | 準確度 | 1 ％ |
| 適用范圍 | 緣材料的測試 | | |
SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀
儀器介紹SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下緣材料的測試。技術參數
SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前zui高的160MHz。SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀采用了多項技術： 雙掃描技術- 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。雙測試要素輸入- 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。雙數碼化調諧- 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。自動化測量技術-對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。DDS 數字直接合成的信號源-確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩定。計算機自動修正技術和測試回路優化—使測試回路 殘余電感減至zui低，徹底根除 Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。 SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具，測量值更為，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。 |
| 主要技術特性 |
| Q 值測量范圍 | 2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔 |
| 固有誤差 | ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 工作誤差 | ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 電感測量范圍 | 4.5nH ～ 140mH |
| 電容直接測量范圍 | 1 ～ 200pF |
| 主電容調節范圍 | 18 ～ 220pF |
| 主電容調節準確度 | 120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％ |
| 信號源頻率覆蓋范圍 | 100kHz ～ 160MHz |
| 頻率分段 （ 虛擬 ） | 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz |
| 頻率指示誤差 | 3 × 10 -5 ± 1 個字 |
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