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價(jià)格：電議
所在地：廣東 深圳市
型號(hào)：安捷倫
更新時(shí)間：2012-05-25
瀏覽次數(shù)：1371
公司地址：廣東省深圳市深南大道6029號(hào)（車公廟）世紀(jì)豪庭29A
唐沁洋(先生)
| 是否提供加工定制 | 否 | 類型 | 智能LCR測(cè)量?jī)x |
| 品牌 | 安捷倫 | 型號(hào) | 安捷倫 |
| 測(cè)量范圍 | 20mV～1Vrms | 測(cè)量準(zhǔn)確度 | 0.1（%） |
| 測(cè)量頻率 | 100Hz-100kHz（Hz） | 測(cè)量速度 | 25ms |
基本精度為0.1%
測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
高速測(cè)量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測(cè)試量程
變壓器參數(shù)測(cè)量(供選用)
Alilent 4263B LCR測(cè)試儀是Agilent公司生產(chǎn)的價(jià)廉物美的低檔LCR測(cè)試儀，供生產(chǎn)線上的元件評(píng)估和實(shí)驗(yàn)室中的基本阻抗測(cè)試使用。4263B具有能在正確狀態(tài)下對(duì)測(cè)試進(jìn)行模擬的5個(gè)測(cè)試頻率，即100Hz，120Hz，1kHz和100kHz。在這5個(gè)頻率之外還可增添供選用的20kHz測(cè)試頻率（選件002）。
高速測(cè)量
Agilent 4263B依靠在任何測(cè)試頻率上都有25ms的測(cè)量速度來提高一產(chǎn)率，這種能力提高了電解電容順和變壓器測(cè)試的效率，4263B能檢查測(cè)試端子與被測(cè)件（DUT）之間的接觸狀況，這種功能保證在生產(chǎn)中用自動(dòng)處理器進(jìn)行合格。不合格的測(cè)試的可靠性，有故障的被測(cè)件一旦從處理器中取去該儀器便能立即恢復(fù)正常工作，因此處理器始終能以zui高速度工作。
電解電容器測(cè)量
Ailent 4263B的精度和寬的測(cè)量范圍是對(duì)電解電容器進(jìn)行測(cè)量的很好保證。充電后的電容器可能經(jīng)常端放電，從而使儀器損壞。4263B的前端設(shè)計(jì)考慮了保護(hù)作用，能保持測(cè)試正常進(jìn)行。
變壓器參數(shù)測(cè)量
由于Ailent 4263B能進(jìn)行匝數(shù)比（N），互感（M）和直流電阻（DCR）測(cè)量，故數(shù)據(jù)計(jì)算和改變測(cè)試裝置不再是費(fèi)時(shí)的工作（選件001）靈活的信號(hào)電平高速和電壓、電流監(jiān)視功能使4263B特別適用于測(cè)量與電平有關(guān)的被測(cè)件，始磁芯電感器。
技術(shù)指標(biāo)：
| 測(cè)量功能 | ||
| 測(cè)量參數(shù) | |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR | |
| 選件001 | 增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測(cè)量 | |
| 測(cè)量電路形式 | 串聯(lián)和并聯(lián) | |
| 數(shù)學(xué)功能 | 偏差和百分偏差 | |
| 測(cè)試電纜長(zhǎng)度 | 0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz) | |
| 測(cè)試信號(hào)數(shù)據(jù) | ||
| 測(cè)試頻率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz | |
| 選件002 | 增加20kHz測(cè)試頻率 | |
| 頻率精度 | ±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV) | |
| 輸出阻抗 | 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程） | |
| 交流測(cè)試信號(hào)電平 | 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔 | |
| 精度 | ±（10%+10mV) | |
| 內(nèi)部直流偏置 | ||
| 電平 | 1.5和2V；精度：±（5%+2mV) | |
| 外部直流偏置 | 0~+2.5V | |
| 測(cè)量范圍 | 參數(shù) | 測(cè)量范圍 |
| |Z|,R,X | 1mΩ-100MΩ | |
| |Y|,G,B | 10nS-1000S | |
| C | 1pF-1F | |
| L | 10nH-100kH | |
| D | 0.0001-9.9999 | |
| Q | 0.1-9999.9 | |
| θ | -180°~+180° | |
| DCR | 1mΩ-100MΩ | |
| N | 0.9-200（待定） | |
| L,M | 1μH-100H（待定） | |
| Δ% | -999.99%-+999.99% | |
| 測(cè)量精度： | ±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) | |
| 測(cè)量時(shí)間 | ||
| 模式 | 時(shí)間（典型值） | |
| 短 | 25ms | |
| 中等 | 65ms | |
| 長(zhǎng) | 500ms | |
| 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器： | 電壓和電流 | |
| 前端保護(hù)： | 當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。zui大電容器電壓為；在 Vmax≤250V時(shí)，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時(shí)，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。 | |
| 顯示數(shù)字： | 3，4或5位（可選擇） | |
| 修正功能： | ||
| 開路/短路誤差為0： | 消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 | |
| 負(fù)載： | 利用一個(gè)已校器件作為參考來改善測(cè)量的精度 | |
| 比較功能： | 對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果 | |
| 接觸檢查功能： | 可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms | |
| 其它功能 | ||
| 存儲(chǔ)/調(diào)用： | 可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置 | |
| 連續(xù)存儲(chǔ)功能： | 若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來（在23°±5℃下≦72小時(shí)） | |
| GPIB接口 | 所有控制設(shè)置，被測(cè)值和比較器信息 | |
| 處理器接口 | 所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開路集電。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測(cè)量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā) | |
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