產品簡介
品牌蘇博電氣型號SBJDCS-C 測量范圍200kHz-160MHz(Hz) 準確度 1 % SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀
產品說明
| 品牌 | 蘇博電氣 | 型號 | SBJDCS-C |
| 測量范圍 | 200kHz-160MHz(Hz) | 準確度 | ± 1 % |
SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀

儀器介紹SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的試驗方法》(等效采用IEC 60250)設計和制造的,并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻(1MHz)下緣材料的測試。技術參數
SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前zui高的160MHz。SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀采用了多項技術: 雙掃描技術- 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。雙測試要素輸入- 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。雙數碼化調諧- 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。自動化測量技術-對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。DDS 數字直接合成的信號源-確保信源的高葆真,頻率的高、幅度的高穩定。計算機自動修正技術和測試回路優化—使測試回路 殘余電感減至zui低,徹底根除 Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。 SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀的創新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具,測量值更為,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。 |
| 主要技術特性 |
| Q 值測量范圍 | 2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔 |
| 固有誤差 | ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz) |
| 工作誤差 | ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz) |
| 電感測量范圍 | 4.5nH ~ 140mH |
| 電容直接測量范圍 | 1 ~ 200pF |
| 主電容調節范圍 | 18 ~ 220pF |
| 主電容調節準確度 | 120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1 % |
| 信號源頻率覆蓋范圍 | 100kHz ~ 160MHz |
| 頻率分段 ( 虛擬 ) | 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz |
| 頻率指示誤差 | 3 × 10 -5 ± 1 個字 |
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