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價格：電議
所在地：陜西 西安市
型號：PLD-MPCS2.0
更新時間：2024-09-14
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公司地址：陜西省西咸新區灃西新城西部云谷二期12-5-FX-G19
王國棟(先生) 銷售員
電子半導體不溶粒子分析儀 顯微鏡法-：
測試軟件具有操作員管理系統、測試標準、零件測試模板、圖像存儲、顆粒追蹤、報告輸出、清潔度分析等功能；
自動標準選擇、顆粒尺寸設定、顆粒計數，或按用戶設定范圍計數，自動顯示分析結果，并按照相關標準確定產品等級；
將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物；
專業軟件控制分析過程，手動對焦，手動光強（顆粒清潔度測試必須人為干預進行），自動掃描，自動攝入，自動分析；
專用數字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動膜片掃描系統，無縫拼接，數字化顯微鏡分析系統；
R232接口數據傳輸方式將顆粒圖像傳輸到分析系統；
顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進行處理與分析；
顯示器及打印機輸出分析結果；
直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統計、自動標定等特點；
避免激光法的產品缺陷，擴展檢測范圍；
現實NAS、ISO等標準方法的認可；
提供“OIL17服務星”簽約式服務；
電子半導體不溶粒子分析儀 顯微鏡法-應用范圍：
電子半導體行業：CMP Slurry，石墨、芯片，晶圓加工等微粒檢測；
特殊化工行業：墨水&噴墨、納米材料、化工染料、潤滑劑、清洗劑、有機液等微粒檢測；
石化行業：航空、航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、汽車制造、制冷、電子、工程機械、液壓系統等領域；
其他行業：過濾產品，清潔度方面，食品飲料，化妝品等微粒檢測。
電子半導體不溶粒子分析儀 顯微鏡法-執行標準：
0.1~3000μm的超寬范圍、超高分辨率滿足510多個標準要求。
可根據客戶要求，植入相應“光阻法顆粒度”測試和評判標準。
技術參數：
訂制要求：各類液體檢測要求；
測試范圍: 1μm-500μm
放大倍數：40X～l000X倍
大分辨：0.1μm
顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）
重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）
數字攝像頭(CCD)：300萬像素
標尺刻度：0.1μm
分析項目：粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等
自動分割速度：< 1秒
分割成功率：> 93%
軟件運行環境：Windows 2000、Windows XP
接口方式：RS232或USB方式
供貨期：30個工作日
精 確 度：<±3% 典型值；
重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）；
鑒定機構：西北計量測試中心（民品）
售后服務：普洛帝服務中心/普研檢測。
免責聲明：以上所展示的[PLD-MPCS2.0 電子半導體不溶粒子分析儀 顯微鏡法]信息由會員[灃西新城諾明翰儀器服務中心]自行提供，內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。
