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價格:電議
所在地:陜西 西安市
型號:PLD-MPCS2.0
更新時間:2024-09-14
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公司地址:陜西省西咸新區灃西新城西部云谷二期12-5-FX-G19
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王國棟(先生) 銷售員
電子半導體不溶粒子分析儀 顯微鏡法-:
測試軟件具有操作員管理系統、測試標準、零件測試模板、圖像存儲、顆粒追蹤、報告輸出、清潔度分析等功能;
自動標準選擇、顆粒尺寸設定、顆粒計數,或按用戶設定范圍計數,自動顯示分析結果,并按照相關標準確定產品等級;
將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物;
專業軟件控制分析過程,手動對焦,手動光強(顆粒清潔度測試必須人為干預進行),自動掃描,自動攝入,自動分析;
專用數字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描;全自動膜片掃描系統,無縫拼接,數字化顯微鏡分析系統;
R232接口數據傳輸方式將顆粒圖像傳輸到分析系統;
顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進行處理與分析;
顯示器及打印機輸出分析結果;
直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統計、自動標定等特點;
避免激光法的產品缺陷,擴展檢測范圍;
現實NAS、ISO等標準方法的認可;
提供“OIL17服務星”簽約式服務;

電子半導體不溶粒子分析儀 顯微鏡法-應用范圍:
電子半導體行業:CMP Slurry,石墨、芯片,晶圓加工等微粒檢測;
特殊化工行業:墨水&噴墨、納米材料、化工染料、潤滑劑、清洗劑、有機液等微粒檢測;
石化行業:航空、航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、汽車制造、制冷、電子、工程機械、液壓系統等領域;
其他行業:過濾產品,清潔度方面,食品飲料,化妝品等微粒檢測。
電子半導體不溶粒子分析儀 顯微鏡法-執行標準:
0.1~3000μm的超寬范圍、超高分辨率滿足510多個標準要求。
可根據客戶要求,植入相應“光阻法顆粒度”測試和評判標準。
技術參數:
訂制要求:各類液體檢測要求;
測試范圍: 1μm-500μm
放大倍數:40X~l000X倍
大分辨:0.1μm
顯微鏡誤差:0.02(不包含樣品制備因素造成的誤差)
重復性誤差:< 5%(不包含樣品制備因素造成的誤差)
數字攝像頭(CCD):300萬像素
標尺刻度:0.1μm
分析項目:粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等
自動分割速度:< 1秒
分割成功率:> 93%
軟件運行環境:Windows 2000、Windows XP
接口方式:RS232或USB方式
供貨期:30個工作日
精 確 度:<±3% 典型值;
重合精度:10000粒/mL(5%重合誤差);
鑒定機構:西北計量測試中心(民品)
售后服務:普洛帝服務中心/普研檢測。
免責聲明:以上所展示的[PLD-MPCS2.0 電子半導體不溶粒子分析儀 顯微鏡法]信息由會員[灃西新城諾明翰儀器服務中心]自行提供,內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。