REMACOMP? C 軟磁交流磁滯回線自動測量儀

北京偉信楚華商貿有限責任公司

會員指數：

企業認證：

價格：電議

所在地：北京

型號：REMACOMP? C

更新時間：2024-04-28

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公司地址：北京市海淀區二里莊5號樓102室

13701031761 李工(先生)

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產品簡介

REMACOMP?C 系列儀器包括各種計算機控制的自動測量系統，用以測量軟磁體材料的動態（AC）磁性特征。這些信息在材料研究、質量控制和系統設計中廣泛使用。特征數據從對磁滯回線的測量中獲得，重要的特性從鐵芯損耗

公司簡介

公司成立于2002年，主要銷售各類醫用X射線性能檢測儀表及模體，并能按照相應國家檢測規范提供專業檢測培訓。
主要技術服務：
1.可提供放射防護評價與檢測的培訓。
2.可為職業衛生技術服務機構的構建與專業技術人員的技術培訓提供服務。
3.可為放療與核醫學設備質量控制檢測提供技術培訓服務。
主要產品：
1.X射線檢測儀表：X射線機多功能質量檢測儀，鉛尺,嵌鉛刻度米制直尺,千伏表，脈沖表，毫安及毫安秒表,劑量儀，三維水箱，二維水箱，一維水箱，矩陣。
2.醫用CT檢測儀：CT劑量檢測儀，CATPHAN500CT性能檢測模體，CATPHAN600性能檢測模體，CT頭部及體部劑量模體，3D軀干檢測模體。
3.核磁共振檢測儀，高斯計，SMR170核磁共振性能檢測模體,SMR100核磁共振性能檢測模體。
4.其它醫療設備檢測儀：超聲功率計，除顫器檢測儀，電氣安全分析儀，多參數患者模擬儀，高頻電刀分析儀，呼吸機檢測儀，劑量面積乘積儀，脈搏血氧分析儀，生物安全柜檢測儀，輸液泵注射泵檢測儀，無創血壓模擬儀，血透機檢測儀，膠片密度計，亮度計。
5.各種檢測模體：鉛尺，CR及DR性能檢測模體，DSA性能檢測模體，乳腺性能檢測模體，數字乳腺機檢測模體，3D牙科機頭部檢測模體，牙科機測模體,AEC自動曝光控制模體，低對比度測試卡，星卡，分辨率測試卡，低對比度細節模體，19孔低對比度測試模體，綜合測試卡，X射線3D軀干檢測模體，X射線3D頭部檢測模體，放射外科頭部檢測模體，劑量驗證模體，GAMMEX超聲模體，GAMMEX多普勒流量測試系統，PET散射檢測模體,PET及SPECT檢測模體；核醫學設備檢測模體套裝,X、γ刀球形檢測模體,伽馬刀球形檢測模體等。

我公司還提供更多檢測儀表及模體，敬請來電垂詢！謝謝！

我公司提供的所有設備完全符合：放射衛生技術服務機構儀器設備的要求。
完全符合：數字減影血管造影（DSA）X射線設備成像性能驗收試驗（GB/T 19042.3-2005）的要求。
完全符合：醫用血管造影X射線機專用技術條件（YY/T 0740-2009）的要求。
完全符合：牙科X射線設備成像性能驗收試驗（GB/T 19042.4-2005）的要求。
完全符合：X射線計算機斷層攝影裝置質量保證檢測規范（GB 17589-2011）的要求。
完全符合：醫用X射線診斷放射防護要求（GBZ 130-2013）的要求。
完全符合：乳腺X射線攝影質量控制檢測規范（GBZ 186-2007）的要求。
完全符合：計算機X射線攝影(CR)質量控制檢測規范（GBZ 187-2007）的要求。
完全符合：醫用常規X射線診斷設備影像質量控制檢測規范（WS 76-2011）的要求。
完全符合:X射線攝影用影像板成像裝置專用技術條件(YY/T 0794-2010)的要求。
完全符合:數字化醫用X射線攝影系統專用技術條件（YY/T 0741-2009）的要求。
完全符合:醫用數字攝影(CR、DR)系統X射線輻射源檢定規程（JJG 1078-2012）的要求。
完全符合:X射線攝影用影像板成像裝置專用技術條件(YY/T 0794-2010)的要求。
完全符合:數字化醫用X射線攝影系統專用技術條件（YY/T 0741-2009）的要求。
完全符合:醫用數字攝影(CR、DR)系統X射線輻射源檢定規程（JJG 1078-2012）的要求。

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產品說明

REMACOMP® C

軟磁交流磁滯回線自動測量儀

REMACOMP®C 系列儀器包括各種計算機控制的自動測量系統，用以測量軟磁體材料的動態（AC）磁性特征。這些信息在材料研究、質量控制和系統設計中廣泛使用。特征數據從對磁滯回線的測量中獲得，重要的特性從鐵芯損耗、剩磁、矯頑力和磁導系數中得出。

除了功率放大器外，REMACOMP®C 的很多部件都集成到系統計算機上。這樣

就盡量減少了外部電纜連接。外部功率放大器的輸出值可在很寬的范圍內適應具體的要求。儀器的頻率范圍從 10 Hz 到 2 KHz，10 kHz 或者 500Hz，zui高可打到 3 MHz，具體范圍取決于所選的零部件。

測量:

根據型號和配件的不同，REMACOMP® C 可進行以下測量：

對橫截面均勻和封閉磁路樣品（比如環型或跑道形樣品）的測量。對于這類測試，樣品必須配兩個繞組。

對其他可以配兩個繞組的樣品的相對（比較）測量。

使用帶測量線圈（環繞線圈）的開放磁場線圈對開路中的條形樣品的測量。

在 Epstein 框架中對條狀或片狀樣品的測量。

在單片磁軛中對條狀或片狀樣品的測量。

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