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價格：電議
所在地：北京
型號：JW3308
更新時間：2019-07-02
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公司地址：北京通州區永順翠福園8號樓
夏佳麗(女士) 經理
JW3308手持式回損儀設計用于測量各種光器件、光鏈路的反射衰耗，控制光纖接頭質量，在光纖安裝和系統運行的過程中，可測試光回損質量，是應用于現場的優化解決方案。可分別用做光回損測試儀、光功率計、光源，并具有數據存儲功能。
技術指標
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光回損測試 |
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測試波長（nm） |
1310/1550 |
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譜寬（nm） |
<5 |
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顯示范圍（dB） |
6~70 |
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精度（dB） |
±0.5 |
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分辨率（dB） |
0.01 |
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光功率計 |
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波長范圍（nm） |
850 ～ 1650 |
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校準波長（nm） |
850、1300、1310 、1490、 1550 、 1625 |
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檢測器類型 |
InGaAs |
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顯示模式 |
dBm 、dB 、W |
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顯示范圍（dBm） |
－70 ～＋6 |
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zui大輸入功率（dBm） |
＋6 |
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分辨率（dB） |
0.01 |
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精度（dB） |
0.3 |
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光源 |
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波長（nm） |
1310/1550 |
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譜寬（nm） |
<5 |
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zui大輸出功率（dBm） |
-3 |
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穩定度（dB，30min） |
± 0.05 |
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調制頻率（HZ） |
CW, 270, 1K, 2K |
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