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價(jià)格:電議
所在地:北京
型號:CIT3000SMP
更新時(shí)間:2020-03-14
瀏覽次數(shù):1837
公司地址:北京市通州區(qū)興茂三街18號院
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王汝玄(先生) 經(jīng)理
便攜式X熒光分析儀 型號:CIT3000SMP
主要技術(shù)指標(biāo)
1、儀器測量對象:各種有色、黑色金屬粉、金屬礦粉、燒結(jié)礦、球團(tuán)礦、爐渣,各種非金屬礦、硅酸鹽礦物、多種合金等;
2、分析范圍:S-U(主要為K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Pb、Zn、Cu、Ni、Mo、Sn、Sb、As、Ag等);
3、分辨率優(yōu)于155ev;
4、儀器穩(wěn)定性好,8小時(shí)連續(xù)測定RSD≤0.25%;
5、溫度系數(shù)≤0.0004/℃工作環(huán)境溫度-10~45℃;
6、儀器分析精度:標(biāo)準(zhǔn)偏差≤0.08%(按連續(xù)12次分析同一樣品所得數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì));
7、儀器分析精度:本儀器對各種有色金屬礦石、粉末,多種合金、燒結(jié)礦、球團(tuán)、各種非金屬礦等對象元素含量的重復(fù)測量精度均達(dá)到相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)要求;
8、分時(shí)間小于180秒;
9、整機(jī)功耗:8W;
10、整機(jī)重量:1.75Kg;
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