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價(jià)格:電議
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更新時(shí)間:2011-12-02
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(女士)
NETZSCH LFA 457 MicroFlash&\\#8482; 代表了當(dāng)代激光閃射測(cè)量技術(shù)的新進(jìn)展。儀器為桌上型,溫度范圍 -100 ~ 1100℃。為了覆蓋這一溫度范圍,提供了兩種可自由切換的爐體。系統(tǒng)所使用的全新的紅外傳感器技術(shù)使得用戶甚至可以在 -100℃ 的低溫下測(cè)量樣品背部的溫升曲線。系統(tǒng)也能夠測(cè)量較大體積的樣品(直徑 25.4mm),或使用內(nèi)置的自動(dòng)樣品切換器在一次升溫中對(duì)多個(gè)樣品進(jìn)行測(cè)量。真空密閉系統(tǒng)使得儀器可以在多種用戶可選的氣氛中進(jìn)行測(cè)量。樣品支架、爐體與檢測(cè)器的垂直式排布方便了樣品的切換,同時(shí)使得檢測(cè)信號(hào)擁有的信噪比。LFA 457 的設(shè)計(jì)符合各類國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),如 ASTM E-1461,DIN EN 821 或 DIN 30905。 儀器特點(diǎn): 低溫爐體:-100 ~ 500℃ 高溫爐體:RT ~ 1100℃ 熱擴(kuò)散系數(shù):0.01 ... 10 mm2/s 導(dǎo)熱系數(shù)范圍:0.1 ... 2000 W/(m*K) 特殊樣品支架:根據(jù)用戶需要定制,用于測(cè)量粉末樣品、液態(tài)樣品或非標(biāo)準(zhǔn)尺寸的樣品。 NETZSCH LFA 457 MicroFlash&\\#8482; 擁有非常出色的儀器控制與分析軟件,在同類產(chǎn)品中頗為獨(dú)特。對(duì)于檢測(cè)器測(cè)得的溫度-時(shí)間曲線的分析方法,用戶能夠在超過 15 種不同模型中進(jìn)行選擇,由此,幾乎對(duì)所有的應(yīng)用場(chǎng)合,如金屬,陶瓷,聚合物,半透明材料或多層系統(tǒng)都能夠以優(yōu)的方式進(jìn)行分析。對(duì)大多數(shù)模型,都提供熱損耗與有限脈沖修正,這對(duì)高精度的測(cè)試至關(guān)重要。這些模型建筑在非線性回歸的基礎(chǔ)上,將整條測(cè)量曲線(在 500 至 15000 個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)之間)納入計(jì)算。
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