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價(jià)格：電議
所在地：全國
型號(hào)：
更新時(shí)間：2011-12-01
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(女士)
該儀器用于測(cè)試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時(shí)，同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同，因此對(duì)薄膜物性的測(cè)量必須在薄膜狀態(tài)下進(jìn)行。根據(jù)物體表面溫度按余弦(或正弦)規(guī)律變化時(shí)的瞬態(tài)實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｐ汀２捎脺囟炔ǚ▉頊y(cè)試薄膜材料的熱物性參數(shù)，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下，當(dāng)溫度振蕩頻率達(dá)到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計(jì)算導(dǎo)溫系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)。儀器專用于研究薄膜材料熱物性特性。
主要技術(shù)參數(shù)：
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