下面我們在分析外顆粒散射理論和測試技術基礎上設計了一套采用光子技術測量亞微米量級顆粒散射信息的實驗系統來對Mie氏散射理論進行更加深入的研究。為了將亞微米乃至納米范圍內的顆粒更加地測量其粒徑大小，實驗中采用光子技術，合理地設計樣品池與入射光之間的角度，很好地提高了實驗精度，得到與Mie 理論吻合較好的結果,并創新提出采用光纖探頭結合光電倍增管與光子計數器作探測器的粒度儀,較有限環靶更好地適用于亞微米顆粒的粒度測試,并可更好的和計算機接口,提高測試水平，從而大大提高了小顆粒粒度測量的分辨能力,并在此基礎上探測性地研究新一代亞微米顆粒檢測儀器。
該研究采用高時空分辨率觀測技術，以物理模擬結合實驗測量為主要研究手段。采用He-Ne激光光源照射到均勻分散的顆粒上，用光纖接受散射信號，通過光電倍增管將散射信號放大后，用光子計數器來測量激光作用下各微粒的散射信息。通過對散射信號的分析計算，可得到所測場中顆粒物理參數的定量結果。
