本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具 FT340雙電測試四探針方阻電阻率測試儀
雙電測方阻電阻率測試儀
本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測量并根據(jù)測試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.
雙電測方阻電阻率測試儀
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高度,特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測試。
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規(guī)格型號(hào) |
FT-341 |
FT-342 |
FT-343 |
FT-345 |
FT-346 |
FT-347 |
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1.方塊電阻范圍 |
10-4~2×105Ω/□ |
10-4~2×103Ω/□ |
10-3~2×105Ω/□ |
10-3~2×103Ω/□ |
10-2~2×105Ω/□ |
10-2~2×103Ω/□ |
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2.電阻率范圍 |
10-5~2×106Ω-cm |
10-5~2×104-cm |
10-4~2×106Ω-cm |
10-4~2×104-cm |
10-3~2×106Ω-cm |
10-3~2×106Ω-cm |
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3.測試電流范圍 |
0.1μA,μA,0μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
0.1μA,μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
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4.電流精度 |
±0.1%讀數(shù) |
±0.2%讀數(shù) |
±0.2%讀數(shù) |
±0.3%讀數(shù) |
±0.3%讀數(shù) |
±0.3%讀數(shù) |
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5.電阻精度 |
≤0.3% |
≤0.3% |
≤0.3% |
≤0.5% |
≤0.5% |
≤0.5% |
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6.顯示讀數(shù) |
大屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 |
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7.測試方式 |
雙電測量 |
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8.工作電源 |
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W |
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9.整機(jī)不確定性誤差 |
≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果) |
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10.選購功能 |
選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺(tái) |
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