詳細(xì)描述四探針測(cè)試儀的功能以及特點(diǎn)

發(fā)布時(shí)間：2020-07-04瀏覽次數(shù)：1594返回列表

四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。該儀器采用了電子進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀(guān)、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。如有需要可加配測(cè)試臺(tái)使用。

四探針測(cè)適用范圍：

1、覆蓋膜；導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜；隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙；金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜；熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜；電涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試。

2、硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜。

3、EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜。

4、抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等。

四探針測(cè)試儀的功能描述：

1、四探針單電測(cè)量方法；

2、液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償；

3、高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；

4、選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理；

5、提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇。

四探針測(cè)設(shè)備特點(diǎn)：

1、可以測(cè)量高溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率；

2、軟件、觸摸屏、高溫爐等集成于一體，可以進(jìn)行可視化操作；

3、可實(shí)現(xiàn)純凈氣氛條件下的測(cè)量；同時(shí)保證探針在高溫下不氧化；

4、采用labview軟件開(kāi)發(fā)，操控性、兼容性好、方便升級(jí)；

5、可自動(dòng)調(diào)節(jié)樣品測(cè)試電壓，探針和薄膜接觸閃絡(luò)現(xiàn)象；

6、控溫和測(cè)溫采用同一個(gè)傳感器，保證樣品每次采集的溫度都是樣品實(shí)際溫度；

7、可配套使用Keithley2400或2600數(shù)字多用表。

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