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XRF光譜儀可對鍍層的厚度與成分行分析
發(fā)布時間：2022-07-04瀏覽次數(shù)：1158返回列表
XRF可對鍍層厚度與成分行快速、效、無損和準確的分析。XRF光譜儀的主要件：
1、X射線管：儀器的分，產(chǎn)生照射樣品的X射線。
2、光圈：光圈是引導(dǎo)X射線向樣品的裝置的分。XRF儀器中的光圈將決定光斑尺寸——正確的光圈選擇對度和測量效率至關(guān)重要。
3、探測器：與相關(guān)電子設(shè)備并處理從樣品中激發(fā)出的X射線：探測X射線的能量和強度。
4、對焦系統(tǒng)：確保每次測量中X射線管、零件和探測器間的X射線可測量且?guī)缀喂饴愤B續(xù)致；否則會導(dǎo)致結(jié)果不準確。
5、相機：幫助用戶定位測量區(qū)域。某些情形下相機用于向自動操作模塊提供圖像信息，或包括放大圖像以定位需要測量的區(qū)域。
6、樣品臺：樣品可放置于固定或可移動的樣品臺上?？焖倩蚵僖苿訉τ谡业綔y試位置至關(guān)重要，隨后聚焦于準確的區(qū)域行測量。作臺移動的度是帶來測試定位準確的個因素，并而貢獻于儀器的整體準確度。
Think800A X熒光鍍層測厚儀是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測術(shù)和經(jīng)驗，以特的產(chǎn)品配置、能齊的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設(shè)計，使測試作加輕松成。Think800A 鍍層測厚儀使用效而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且的具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計，使儀器操作人性化、方便。廣泛應(yīng)用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛(wèi)浴等行業(yè)。
