天瑞儀器XRF元素分析儀具有多種測試模式設(shè)置和數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品成的偏差。采用超小超真空的樣品腔設(shè)計，保證測試時達到10Pa以下，使設(shè)備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提測試范圍、輕元素檢出限和度。
    樣品原子時，會產(chǎn)生次X射線，這些次X射線會被探頭收集并處理。
    較穩(wěn)定的原子是由原子核及繞核旋轉(zhuǎn)的電子構(gòu)成，電子按照能量層或電子殼層排列，不同的能量層可包含不同數(shù)量的電子。
    在能初X射線與原子發(fā)生碰撞時，會打亂原子的平衡狀態(tài)。
    此時，電子會從較低的能量層射出，形成電子空位，使原子失去穩(wěn)定。
    為了恢復(fù)穩(wěn)定性，較能量層的電子就會填補空位。而電子在兩個能量層間移動時釋放的多余能量就會以次X射線的形式發(fā)射出來。發(fā)射出的X射線的能量會表現(xiàn)出元素的特征。
    這也就意味著XRF能夠提供有關(guān)被測樣品的定性信息。
    不僅如此，XRF同時也是項定量術(shù)。
    樣品原子發(fā)射出的X射線經(jīng)探頭收集，并由儀器處理后可形成個光譜，顯示X射線的強度峰值及能量對照。
    如我們所知，通過峰值能量可以判定元素的種類。其峰值區(qū)域或強度可示出元素在樣品中的含量。
    隨后，XRF元素分析儀就可以使用這信息計算樣品的元素構(gòu)成。從按下按鈕或扳機，到輸出分析結(jié)果的流程zui快僅需2秒鐘，zui多不過幾分鐘。
    XRF元素分析儀的正確開機方法如下：
    1、待設(shè)備內(nèi)液態(tài)氮的狀態(tài)確認OK后,方可開機。
    2、打開檢測設(shè)備專用變壓器的開關(guān)，確認輸出電壓為100V，觀察綠色示燈亮為正常運行。
    3、打開專用插座開關(guān)，檢查各插頭的插入狀態(tài)是否良好。
    4、再打開分析儀的開關(guān)，“READY”燈開始閃爍，約6分鐘后變?yōu)槌Ａ痢?br />     5、打開冷光照射器的開關(guān)，并確認照射器上的開關(guān)是否設(shè)置在“M”側(cè)。
    6、然后再開電腦顯示器和主機。