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公司名稱：江蘇天瑞儀器股份有限公司
主營業(yè)務(wù)：RoHS環(huán)保測試儀、RoHS2.0檢測儀、ROHS十項鄰苯測試儀、XRF、鹵素儀、重金屬測試儀、XRF、金屬鍍層測厚儀、金鎳厚測試儀、金屬...
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用X射線熒光光譜法元素分析儀行材料鑒別需注意的事項
發(fā)布時間：2018-02-08瀏覽次數(shù)：2770返回列表
線熒光光譜法元素分析儀是種用于金屬件材料可靠性鑒別以確認所用金屬或合號是否正確無誤的簡便的方法。用X射線熒光光譜法元素分析儀行材料鑒別需注意相關(guān)的事項
材料可靠性鑒別(PMI)在金屬制、石化生產(chǎn)以及消費產(chǎn)品中起到重要作用。
由于發(fā)射和接收的X射線率較低，將分析儀貼近試樣就非常重要。理想情況下，試樣應(yīng)當(dāng)與儀器窗口面直接接觸。如果試樣具有復(fù)雜的幾何形狀那么就會存在很大難度，但Vanta分析儀的狹窄輪廓外形能夠讓儀器充分貼近諸如以90度角的卷邊焊縫材料。
對于諸如鋁制類的輕合金，XRF分析儀只能對試樣表面深度幾百微米行測量。對于鑄鐵或銅等主要金屬，XRF分析儀對試樣的測量深度小于百微米。而對于金或鉛等致密材料，其僅能測量表面的數(shù)十微米。這就意味著材料表面準(zhǔn)確體現(xiàn)總體成分這點非常關(guān)鍵。諸如油漆、密封材料和鍍層以及表面污染等可能會對分析成大影響。與此類似，噴砂或拋丸、研磨、甚至粉塵的殘留物均可能影響材料可靠性鑒別。因此在使用XRF分析儀行檢測之前務(wù)對試樣行清潔。
