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X射線熒光光譜法元素分析儀分析作中的共元素干擾
發布時間：2018-01-19瀏覽次數：2788返回列表
X射線熒光光譜法元素分析儀是利用原X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次的特征X射線（X光熒光）而行物質成分分析和化學態研究，是江蘇天瑞儀器股份有限公司的主營產品之。以下內容主要介紹X射線熒光光譜法元素分析儀分析作中的共元素干擾。
X射線熒光光譜法元素分析儀的原理基于原子受到X射線的作用，其內層電子被激發，形成空穴，原子處于不穩定的激發態。為了回到穩態，原子的外層電子會躍遷回內層，多余的能量以熒光形式釋放出來，被偵測器檢測到，通過此來做分析。通常，可以將X射線熒光光譜分析儀可分為波長色散性和能量色散性。X射線熒光光譜法元素分析儀在日常的分析作中，XRF這種分析方法經常會出現共元素干擾。這種共元素干擾的問題主要起源于X熒光射線偵測器對于X熒光射線的分辨率的限制所致，只要是XRF都會遭遇到相同的問題。共元素干擾主要分為三類：兩相近共元素干擾、逃離波峰、加乘波峰。
1、兩相近共元素干擾
由于兩元素在能譜圖上的位置相近，以至于偵測器無法分別出兩者之間的差距。如鉛(La10.55Kev)、砷(Ka10.54Kev)。
2、逃離波峰
由于某元素的濃度異常，此時發出大量X熒光射線，而偵測器無法及時處理，將在此元素的能譜位置前個硅Ka的能譜距離多出根小波峰而成誤判，但情形少出現。如錫(Ka25.27Kev)-硅(Ka1.74Kev)=23.53Kev≈鎘(Ka23.17 Kev)。
3、加乘波峰
由于某元素的濃度異常，此時發出大量X熒光射線，而偵測器無法及時處理，將在能譜兩倍的位置上出現根波峰。如大量的鐵(Ka6.4Kev)，會在能譜12.8Kev處出根小波峰。成誤判。但此種情形為少見。
