當(dāng)前位置：給覽網(wǎng) » 公司 » 江蘇天瑞儀器股份有限公司
在線溝通：
- rohs檢測儀
- rohs2.0
- rohs1.0
- 鍍層測厚儀
- 臺(tái)式鍍層測厚儀
- 手持式鍍層測厚儀
- 手持式X熒光光譜儀
- 合金成份分析儀
- 波長色散X熒光光譜儀 WDX
- 能量色散X熒光光譜儀 XRF
- ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
- 原子熒光光譜儀 AFS
- 光電直讀光譜儀 OES
- 原子吸收分光光度計(jì) AAS
- 便攜式重金屬快速分析儀 HM
- 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀 GC-MS
- 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 ICP-MS
- 液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀 LC-MS
- 飛行時(shí)間質(zhì)譜聯(lián)用儀 iTOFMS
- 氣相色譜儀 GC
- 液相色譜儀 LC
- 紅外光譜儀 IR
- 離子色譜 IC
- 其他
- 煙氣重金屬在線分析儀
公司名稱：江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人：李經(jīng)理
電話：0512-50355617
手機(jī)：18550150083
傳真：0512-50355809
郵件：591772571@qq.com
地址：江蘇昆山市玉山鎮(zhèn)中華園西路1888號(hào)/深圳市寶安區(qū)松崗街道琦豐達(dá)大廈22AB樓
會(huì)員站:http://www.rohs-yiqi.com
手機(jī)站:http://wap.rohs-yiqi.com
使用EDX鍍層測厚儀時(shí)，以下幾點(diǎn)不可忽視
發(fā)布時(shí)間：2018-10-11瀏覽次數(shù)：1465返回列表
EDX鍍層測厚儀完全可以滿足鍍件RoHS測試需求。鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對樣品造成損壞。同時(shí)，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。使用EDX鍍層測厚儀時(shí)，以下幾點(diǎn)不可忽視:
一、被測物零界厚度的控制
電鍍鍍層測厚儀在測量厚度時(shí)候，是有測試范圍的，并不是對所有的樣板都能實(shí)現(xiàn)測量，凡是被測物的厚度一定不能超過零界厚度，要知道一旦超過零界值，不僅實(shí)現(xiàn)不了厚度的測量，同時(shí)還有可能對PCB鍍層厚度分析儀造成一定程度上的破壞。
二、選對測量方式
電鍍鍍層測厚儀方式有種形式，比如X射線、磁性、電解以及渦流等等，每一種測量方式都有對應(yīng)性，測試屬性是有一定差異性的，對此用戶在使用設(shè)備進(jìn)行測試之前，一定要選好合理的測量方式，避免有測量方式?jīng)]有選對而影響zui終測量數(shù)據(jù)的不性。
三、曲率控制
電鍍鍍層測厚儀在材料樣件測量中，特別是擺放樣件時(shí)，對曲率的控制一定不能忽視，曲率控制不到位直接導(dǎo)致的結(jié)果就是測量范圍不，上下浮動(dòng)比較大，在這一點(diǎn)上電鍍鍍層測厚儀使用者要明白曲率不在控制范圍內(nèi)，一般情況下是樣件彎曲程度出現(xiàn)問題，從而使得測量值不可靠。
四、測試方向的設(shè)定
為保證測量數(shù)據(jù)的性，要將EDX鍍層測厚儀的側(cè)頭和被測物的表面保持垂直，另外在被測物角度上也要做好控制，避免出現(xiàn)傾斜。
