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鍍層膜厚儀800A工作原理
發(fā)布時(shí)間：2017-09-28瀏覽次數(shù)：1921返回列表
鍍層膜厚儀800A工作原理
從X熒光分析測(cè)量原理可以看出鍍層被激發(fā)區(qū)的特征X射線的強(qiáng)度與鍍層和涂層元素含量多少成正比。在一定被激發(fā)區(qū)的測(cè)量區(qū)域內(nèi)，鍍層和涂層元素百分比含量是固定的，因而所測(cè)得的X熒光強(qiáng)度與該測(cè)量范圍鍍層和涂層的厚度成一定正比例關(guān)系。在一定的厚度范圍內(nèi)，鍍層和涂層的厚度與激發(fā)區(qū)的特征X射線的強(qiáng)度成正比例關(guān)系，因此只要測(cè)量該范圍內(nèi)的X熒光強(qiáng)度值，即可算出鍍層和涂層的厚度。
根據(jù)X熒光分析測(cè)量原理，當(dāng)放射性同位素源或X射線發(fā)生器（X射線管）放出的X射線照射到鍍層和涂層時(shí)，其不但能夠激發(fā)此鍍層和涂層產(chǎn)生相應(yīng)的鍍層和涂層的特征X射線，也能夠激發(fā)基材產(chǎn)生相應(yīng)基材的特征X射線。因此不但能夠測(cè)量鍍層和涂層的特征X射線，也可以測(cè)量基材產(chǎn)生基材的特征X射線來(lái)計(jì)算鍍層和涂層的厚度。
Thick800A測(cè)厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。性能特點(diǎn)滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
