外徑千分尺校準規(guī)程

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外徑千分尺校準規(guī)程

一、外徑千分尺校準規(guī)范
1、范圍     本規(guī)范適用于分度值為0.01mm測量范圍至300mm外徑千分尺的校準
2、引用文獻     本規(guī)范引用下列文獻     JJF 1001-1998   《通用計量術語及定義》     JJF 1059-1999   《測量不確定度評定與表示》     GB/T 1216-2004 《外徑千分尺》     JJG 34-2008     指示表指針式數(shù)顯式規(guī)程     JJG 21-2008    《千分尺規(guī)程》     使用本規(guī)范時應注意使用上述引用文獻的現(xiàn)行有效版本。
3、概述外徑千分尺是應用螺旋副傳動原理將回轉(zhuǎn)運動變?yōu)橹本€運動的一種通用長度計量器具主要用于測量各種外尺寸。
4、計量特性
4.1 測微螺旋桿的軸向竄動和徑向擺動測微螺旋桿的軸向竄動和徑向擺動均不大于0.01mm。
4.2 測鉆工作面與測微螺旋桿工作面的相對偏移量該偏移量見表1     表1 測鉆工作面與測微螺旋桿工作面的相對偏移量mm 測量范圍偏移量 025 0.05 2550 0.08 5075 0.13 75100 0.15 100200 0.2-0.3 200300 0.3-0.4
4.3測力     外徑千分尺工作面與球面接觸時所作用的力為510N
4.4刻線寬度及寬度差
固定套管上的縱刻線和微分筒上的刻線寬度為0.080.20mm,刻線寬度差應不大于0.03mm。
4.5微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離    微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離應不大于0.4mm。
4.6微分筒錐面的端面與固定套管上毫米刻線的相對位置當微分筒零刻線與固定套管縱刻線對準時微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的右邊緣應相切。若不相切時允許壓線應不大于0.05mm離線應不大于0.1mm。
4.7工作面的表面粗糙度外徑千分尺和校對用量桿工作面的表面粗糙度應不大于Ra0.05μm。 4.8工作面的平面度工作面的平面度應不大于0.6μm。
4.9兩工作面的平行度兩工作面的平行度應在表2規(guī)定范圍內(nèi)。表2外徑千分尺兩工作面的平行度測量范圍/mm 平行度/μm 025 2550 5075 75100 100200 200300 2 2 3 4 5 67
4.10外徑千分尺的示值誤差應在表3的規(guī)定范圍內(nèi) 表3外徑千分尺的示值誤差測量范圍/mm 平行度/μm 0100 100150 150200 200300 ±4±5 ±6 ±7 ±8±9
4.11校對用的量桿校對用的量桿尺寸偏差和變動量在表4規(guī)定的范圍內(nèi)。表4校對用的量桿尺寸偏差和兩工作面的平行度
標桿尺寸/mm 尺寸偏差/μm 變動量/μm 25 50 75 100125 125175 200225 250300 ±2 ±2 ±3 ±4 ±4 ±5 ±6 1 1 1.5 2 2.5 3.5 3.5
5、校準條件
5.1環(huán)境條件校準外徑千分尺的室內(nèi)溫度在表5的規(guī)定范圍內(nèi)在室內(nèi)平衡溫度的時間不少于表5的要求室內(nèi)濕度不大于70%RH 表5校準外徑千分尺的室內(nèi)溫度和室內(nèi)平衡溫度時間
5.2校準用標準器及相應的設備    校準用標準器及相應設備的計量性能見表6 表6校準用標準器及相應設備的計量性能
6、校準項目和校準方法測量范圍/mm 室內(nèi)溫度對20℃的允許偏差/℃ 平衡溫度的時間/h 外徑千分尺校對用的量桿 100 ±5 ±3 2 >100>300 ±4 ±2 3 名稱計量特性杠桿千分表平板指示表測力儀讀數(shù)顯微鏡或工具顯微鏡塞尺表面粗糙度比較樣塊平面平晶刀口尺平行平晶量塊測長機分度值為0.002mm1級 3級分度值0.01mm1級 分度值為0.1N2.5級 準確度≤10μm 2級誤差+12%-17% 2級 1級 5等 ±0.5+L/100μm
先檢查外觀確定沒有影響計量特性因素后再進行校準。
6.1 測微螺桿的軸向竄動和徑向竄動采用手感法校準。當有異議時采取杠桿指示表與測微螺桿測量面接觸。沿測微螺桿軸向方向分別往返加力3-5N杠桿千分表示值的變化量即為軸向竄動量。徑向擺動的校準將測微螺桿伸出距尺架內(nèi)端10mm用杠桿指示表接觸測微螺桿徑向頂部分貝沿杠桿指示表測力方向和反向方向加力2-3N要求在相互垂直的兩方向測量杠桿指示表示值的大變化量即為徑向擺動量。
6.2 測砧與測微螺桿工作面相對偏移量     在平板上用指示表校準。將外徑千分尺平放在平板上的3個可調(diào)支架上在測微螺桿示值處于測量下限時調(diào)整支撐使其測微螺桿軸線與平板工作面平行然后用指示表測出測砧與測微螺桿在同一方位上至平板間的距離差△x再用可調(diào)V形支撐把外徑千分尺尺架轉(zhuǎn)動90°后豎立固定于平板上按上述方法測出△y測砧工作面與測微螺桿工作面相對偏移量△按下列求的△= △x²+△y²。
6.3 測力用量儀測力儀的球工作面與外徑千分尺工作面相接觸后進行校準。
6.4 刻線寬度及寬度差用讀數(shù)顯微鏡或工具顯微鏡校準。微分筒和固定套管的刻線應至少任意各抽查3條進行測量。
6.5 微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離用0.4的塞尺至于固定套管刻線面上用比較法校準微分筒錐面的端面棱邊上邊緣硬不高塞尺表面。測量應在微分筒任意一周內(nèi)不少于3個位置也可用讀數(shù)顯微鏡或工具顯微鏡校準。
6.6 微分筒錐面的端面與固定套管上毫米刻線的相對位置先將外徑千分尺測量下限調(diào)整正確然后使微分筒錐面的端面與固定套管任意毫米刻線的右邊緣相切此時讀取微分筒的零刻度線與固定套管縱刻度線的偏移量即為離、壓線數(shù)值
6.7 工作面的表面粗糙度用表面粗糙度比較樣塊校準。
6.8工作面的平面度
用2級平面平晶以技術光波干涉法校準。使用中核修理后的外徑千分尺也可以用1級刀口尺以光隙法校準。工作面直徑為6.5mm的距離邊緣0.2mm范圍內(nèi)不計工作面直徑為8mm的距邊緣0.5mm范圍內(nèi)不計。
6.9兩工作面的平行度測量上限至100mm的千分尺兩工作面的平行度用平行平晶校準也可用兩塊校準量塊精度不低于5等量塊。
6.10外徑千分尺的示值誤差外徑千分尺示值誤差校準用5等量塊或相應等級的專用量塊校準受檢點應均勻分布于測量范圍的5點上也可根據(jù)對測量不確定度的要求在適當?shù)沫h(huán)境條件下采用不同等級的量塊進行校準。其分布點為L=A+B 式中    A – 測量下限mm           B – 測微頭示值誤差的被測點尺寸mm。示值誤差的校準應在外徑千分尺尺身處于水平位置狀態(tài)下進行。
6.11校對用的量桿校對用的量桿的尺寸及變動量在光學計或測長機上采用相應等級的量塊以比較法進行校準。
7、校準結(jié)果表達經(jīng)校準的外徑千分尺發(fā)給校準證書。
8、復核時間間隔可根據(jù)被校外徑千分尺的使用情況復核時間間隔由用戶自行決定。

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