Chroma 11050-30M,致茂11050-30M

產(chǎn)品/服務(wù)：Chroma 11050-30M,致茂11050-30M
型號(hào)：Model 11050-30M
品牌：臺(tái)灣 Chroma
單價(jià)：面議
更新日期：2024-09-19
有效期至：長(zhǎng)期有效
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Chroma 11050-30M,致茂11050-30M：Chroma 11050 series 高頻LCR表為一提供被動(dòng)元件量測(cè) 評(píng)估解決方案，兼具與快速兩大特色的測(cè)試儀器。量測(cè)項(xiàng)目涵蓋電感、電容、電阻、品質(zhì)因素、損耗因素等各種被動(dòng)元件測(cè)試所需的主、副參數(shù)。...

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

Chroma 11050-30M,致茂11050-30M：

11050-30M 高頻 LCR 表 (75kHz ~ 30MHz)
主要特色：

測(cè)試參數(shù): L/C/R/Z/Y/DCR/Q/D/ θ
測(cè)試頻率:
75kHz ~ 30MHz (11050-30M)
1kHz ~ 10MHz (11050)
60Hz ~ 5MHz (11050-5M)
測(cè)試電壓: 10mV ~ 5V
基本準(zhǔn)確度: 0.1%
7ms 快速量測(cè)
3 種輸出阻抗模式
測(cè)試訊號(hào)監(jiān)測(cè)功能
比較與分類選別功能
開短路與載入補(bǔ)償功能
量測(cè)、顯示單元分離式設(shè)計(jì)
標(biāo)準(zhǔn)的Handler、RS-232C、USB儲(chǔ)存與外部重迭電流控制介面
可選購(gòu)GPIB或LAN介面

Chroma 11050-30M,致茂11050-30M：

Chroma 11050 series 高頻LCR表為一提供被動(dòng)元件量測(cè) 評(píng)估解決方案，兼具與快速兩大特色的測(cè)試儀器。量測(cè)項(xiàng)目涵蓋電感、電容、電阻、品質(zhì)因素、損耗因素等各種被動(dòng)元件測(cè)試所需的主、副參數(shù)。從 75kHz~30MHz/1kHz~10MHz/60Hz~5MHz 的寬廣測(cè)試頻率范圍，適合分析被動(dòng)元件于不同頻率下的特性。 0.1%的基本量測(cè)準(zhǔn)確度，讓量測(cè)結(jié)果不只是呈現(xiàn)高穩(wěn)定性，還具備高可靠性。只需 7ms 的快速量測(cè)，可搭配自動(dòng)化機(jī)臺(tái)，有效率地大幅提高產(chǎn)量。

Chroma 11050 series 除了具備Chroma LCR表一貫的優(yōu) 異量測(cè)性能之外，也繼承了各種便利的功能設(shè) 計(jì)。三種不同的輸出阻抗模式，滿足使用者對(duì)于量測(cè)結(jié)果與其他儀器的匹配需求。彈性的顯示位數(shù)設(shè)定，可依使用者對(duì)于量測(cè)解析度的需求，調(diào) 整成適合的顯示方式。測(cè)試訊號(hào)的監(jiān)測(cè)功能，可以即時(shí)觀察待測(cè)物上實(shí)際承載的電壓與電流大小。觸發(fā)延遲、量測(cè)延遲與平均次數(shù)等時(shí)序設(shè) 定，讓量測(cè)能緊密配合自動(dòng)化機(jī)臺(tái)動(dòng)作，并在有限的量測(cè)時(shí)間內(nèi)取得的量測(cè)結(jié)果。

Chroma 11050 series 在外型結(jié)構(gòu)上采單元分離式設(shè) 計(jì)，利用雙CPU分別處理量測(cè)與顯示，不但能提高量測(cè)的速度，應(yīng)用于自動(dòng)化機(jī)臺(tái)上時(shí)也能夠縮短測(cè)試線的長(zhǎng)度，強(qiáng)化高頻量測(cè)的度。

Chroma 11050 series 的另一大特色是完善的介面配置。標(biāo)準(zhǔn)配備的介面包含了可供軟硬體設(shè)定量測(cè) 條件、觸發(fā)量測(cè)動(dòng)作、判定量測(cè)結(jié)果與搜集量測(cè) 數(shù)據(jù)的Handler與RS-232C介面，與可儲(chǔ)存儀器設(shè) 定的USB儲(chǔ)存介面、可直接控制Chroma直流重迭電源輸出的外部重迭電流介面。選購(gòu)配備的部分則可依使用者在軟體通訊上的需求，選購(gòu)GPIB或 LAN介面。

功率電感由于攜帶型電子通訊產(chǎn)品薄型化與低功耗的設(shè)計(jì)取向，測(cè)試頻率逐漸提高，連帶使元件的等效串聯(lián)電阻值成為影響產(chǎn)品優(yōu)劣的重要指標(biāo)。緩沖電容扮演決定整體電路信賴性的重要角色，為了能在頻繁承載瞬態(tài)高壓的環(huán)境下持續(xù)正常工作，必須于高頻時(shí)仍保持低的等效串聯(lián)電阻值。因此Chroma 11050 series 在設(shè)計(jì)開發(fā)時(shí)特別關(guān)注被動(dòng)元件在高頻領(lǐng)域的測(cè)試應(yīng)用，以貼近使用者的實(shí)際需求，提升關(guān)鍵的量測(cè)功能。其于低阻抗量測(cè)的準(zhǔn)確度強(qiáng)化，可大幅強(qiáng)化其在高頻量測(cè) 應(yīng)用的實(shí)用性。

Chroma 11050 series 藉由性的設(shè)計(jì)考量與重點(diǎn)式的功能強(qiáng)化，不論是在產(chǎn)品特性研發(fā)分析、自動(dòng) 化產(chǎn)線快速測(cè)試或是各式零件進(jìn)出料管理，都是的解決方案。

Chroma 11050-30M,致茂11050-30M：

Model	Description
11050 series	高頻 LCR 表
11050	高頻 LCR 表 (1kHz~10MHz)
11050-5M	高頻 LCR 表 (60Hz ~ 5MHz)
11050-30M	高頻 LCR 表 (75kHz ~ 30MHz)
A110501	四端SMD測(cè)試盒
A110211	測(cè)試治具(DIP)
A110234	高頻測(cè)試儀線
A133509	GPIB & Handler 介面卡
A133510	LAN & USB-H 介面卡
B110500	High Frequency Extension Test Lead for Automation (BNC to SMA, 1m)

四端測(cè)試盒：

測(cè)試治具(DIP)：

高頻測(cè)試線(1米)：

High Frequency Extension Test Lead for Automation (BNC to SMA, 1m)：

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