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| 圖片 | 標 題 | 更新時間 |
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| FT-351 系列高溫四探針電阻率測試儀 FT-351系列高溫四探針電阻率測試儀 采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數據的處理和測量控制,解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求,軟件實時繪制出溫度與電阻,電阻率,電導率數據的變化曲線圖譜,及過程數據值的報表分析. |
2024-08-21 | |
| 雙電測電四探針電阻率方阻測試儀 雙電測電四探針電阻率方阻測試儀,邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高度,特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試 雙電測電四探針電阻率方阻測 |
2024-08-19 | |
| FT-354高溫粉末電阻率測試系統 高溫粉末電阻率測試系統一、 概述:本機提供一種在高溫環境下測試粉體材料電性能,分析粉體在高溫環境下電阻,電阻率(電導率),與壓強和溫度的實時變化關系,能模擬粉體本身在使用環境和自身特性高溫環境下的電性能狀態. |
2024-08-19 |





