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價格：電議
所在地：上海
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更新時間：2013-06-28
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公司地址：上海市周家嘴路1220弄2號樓507室
朱永軍(先生)
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SMPS+C掃描電遷移率粒徑譜儀
Grimm公司的SMPS+C系統如圖1所示，是由一個凝聚核粒子計數器(CPC)和一個靜電遷移率分析儀(Vienna型DMA)組成，是一種用來測量粒徑在5～1100nm范圍內的超細氣溶膠顆粒的高科技產品。它用DMA來測量顆粒粒徑，并采用CPC來測定顆粒的濃度,DMA的操作流量及電壓控制由CPC的軟件來完成，可使用電池驅動操作以及遠程控制。
(圖1 SMPS+C掃描電遷移率粒徑譜儀)
SMPS+C的操作原理如圖2所示。多分散的氣溶膠顆粒首先經過碰撞切割器除去大的顆粒，然后經過镅-241固體放射源靜電中和器，使得顆粒荷電分布至Bolzman平衡狀態后進入DMA。DMA的頂端入口設計成U型，以減少顆粒損失；頂端帶有層流器，使得氣流呈層流狀態流動。潔凈干燥的保護鞘氣與氣溶膠氣流一起自上而下流動。DMA的外套筒接地，中心極桿接正壓高壓發生器。環境顆粒中帶負電荷的顆粒將在外套筒與中心極桿之間的電場中發生遷移。在某一電壓下(對應一定的電場強度)，具有一定荷質比的負電顆粒將遷移至DMA下端狹縫而逸出，其余荷質比及其電中性、正電荷顆粒將隨過剩氣流被過濾排出。經由狹縫逸出的顆粒為單分散氣溶膠顆粒，進入CPC計數得出其濃度。軟件控制電壓掃描模式，能實現對不同粒徑顆粒濃度分布的掃描檢測，故稱掃描電遷移率粒徑譜儀，其粒徑分辨率非常高，在可測粒徑范圍內可達256個粒徑通道。兩種不同的DMA可以分別測定5～350nm及10～1100nm粒徑范圍；CPC采用單顆粒計數模式濃度高達15000 P/cm3，采用光度計模式可測高濃度至107 P/cm3濃度范圍，故SMPS的測量濃度可達108 P/cm3。
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