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發布時間:2018-12-26瀏覽次數:1778返回列表
電阻測試儀 型號:GSZ-ST-21
方塊電阻測試儀是一種依照類似的標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
該儀器以大規模集成電路為主要核心;用基準電源和運算放大器組成穩流源;帶回路有效正常指示電路;并配以大型LCD顯示讀數,使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。








