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單晶片I-V特性曲線測(cè)試的太陽(yáng)能電池分析儀
發(fā)布時(shí)間：2018-03-23瀏覽次數(shù)：1718返回列表
- 單晶片I-V特性曲線測(cè)試
- 可找出太陽(yáng)能模組大功率的工作點(diǎn) (Vmaxp, Imaxp)
- 量測(cè)大功率時(shí)(Pmax) 的大電壓 (Vmaxp) 大電流 (Imaxp)
- 量測(cè)開(kāi)路電壓(Vopen) 與短路電流 (Ishort)
- 移動(dòng)指標(biāo)可顯示I-V特性曲線每一點(diǎn)的特性值
- 可選購(gòu)攜帶式印表機(jī)將圖形與特性值直接復(fù)制下來(lái)
- 在標(biāo)準(zhǔn)光源下可直接顯示太陽(yáng)能電池的轉(zhuǎn)換效率η(％) 與FF值
- 可以自動(dòng)掃瞄或單點(diǎn)測(cè)試
